主题:ICP全谱直读和分段扫描的区别,对检测有什么影响

浏览0 回复11 电梯直达
andy990601
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各位好,那位朋友能告知ICP全谱直读和分段扫描的区别,对样品检测有什么影响吗?
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espmarine
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原文由 andy990601 发表:
各位好,那位朋友能告知ICP全谱直读和分段扫描的区别,对样品检测有什么影响吗?


其实,在问这样的问题之前, 我们首先得弄清楚什么叫做 全谱直读ICP;
关于这个概念,现在都是众说纷纭,有些厂家甚至歪曲的理解全谱直读的意义,
目的是为了夸大自己的产品,诋毁别家的产品,这样做是没有任何意义的.

作为分析者, 我们或许需要考虑更多的是:
  自己做什么样,做多少样,在满足要求的基础上,选一个质量过硬的品牌就可以了?

dreamweaver
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全谱直读三个基本要素:
1、中阶梯光栅
2、棱镜+光栅双色散系统
3、高光谱衍射级次自由选择测定
创业者
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原文由 dreamweaver 发表:
全谱直读三个基本要素:
1、中阶梯光栅
2、棱镜+光栅双色散系统
3、高光谱衍射级次自由选择测定


恩,说的不错!
说完这三样
也就只有PE的是全谱直读了!
热电,瓦里安,利曼这些厂家一边只能凉快去了
S-REBECCA
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原文由 创业者(cavelong) 发表:
原文由 dreamweaver 发表:

恩,说的不错!
说完这三样
也就只有PE的是全谱直读了!
热电,瓦里安,利曼这些厂家一边只能凉快去了


纯属胡说!
visaler
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原文由 创业者(cavelong) 发表:
原文由 dreamweaver 发表:
全谱直读三个基本要素:
1、中阶梯光栅
2、棱镜+光栅双色散系统
3、高光谱衍射级次自由选择测定


恩,说的不错!
说完这三样
也就只有PE的是全谱直读了!
热电,瓦里安,利曼这些厂家一边只能凉快去了


创业者是PE的托吧?

dreamweaver说的不是真正意义的“全谱”直读,只是现在的仪器满足分析要求所需谱线,此谓常说的全谱~ 明白吗?

分段扫描结构来说,采用单光电倍增管或者ccd,内部光栅或准直镜转动,感光元件一次只能接受一束光,意味着一次只能测量一种元素

所以一般分析时间较长,样品盒氩气消耗量大,但分辨率要优于传统帕型龙格750mm焦距多色仪的。
创业者
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搜搜我发的帖子,你再用脑子去想想我是不是PE的托
反话不会听么?
......
想也不想,一看到什么话
立马蹦出来
指着人家说你说这话
你是PE的托……
哈哈
创业者
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刚刚路过这个帖子
突然看到我这么被评价
晕乎乎的
好吧
我来稍微解释一下
所谓全谱直读
按照正常逻辑来讲
国外是没有这个概念的
只不过二维色散设计的ICP进入中国后
为了迎合市场商业化包装
打出了一个“全谱直读”的口号而已
为什么我在前面要说按照2楼的意思来定义
只有PE成了全谱直读,而热电瓦里安不得不一边凉快去
哈哈
因为吧
我看错了
棱镜+光栅双色散系统我刚开始理解成了PE独家的紫外可见双光路同时检测系统
所以就丢下了前面所说哒
哈哈
不过如果我是PE的托
也不会犯这么低级的错误

扯远了
首先,我们要知道
没有真正的全谱直读
PE也好,瓦里安也好,热电也好,利曼也好
它们真正能做到的,准确地讲
应该是在所能收录到的信号范围内,做直读
但无法做到全谱

众所周知,现在的这种全谱直读概念的仪器
是对光谱级次进行检测,也就是对能量进行检测
而这种能量的信号实际上是从光的19级一直要延伸到200级
而同一个波长信号实际上对于这种仪器的检测器而言
比如我们传统的220纳米的铅信号
对于检测器而言,实际上得到的信号会有将近200个重复的信号(简单的说,大概就是19级的铅,20级的铅……180级的铅……)
这样的信号量,对于ICP而言,保存数据实际上是工作站无法承受的
所以热电也好,PE也好,瓦里安也好
最多只是说我们的仪器覆盖波长谱线数是5万多条而已,PE更绝,高端的7300DV覆盖谱线数量是6000条,而如果要真正覆盖的话,实际上谱线数量应该在25万条以上(如果真要这样,做一次数据保存的文件容量,恩,找一百个500G的硬盘,应该可以坚持一个月吧,哈哈)
所以,这种设计的仪器,才会出现所谓的衍射级次自由选择测定
而这种所谓的自由选择,实际上也不是人为可以控制的
创业者
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现在的这种全谱直读的仪器
实际上最大的问题仍旧在于光谱级次的选择
最大的卖点也是它,最大的问题也是它
所谓成也萧何败也萧何
首先,每个元素的信号,不同级次的信号之间,是有区别的
高级次的信号,能量非常的弱,而分辨率则会随着级次的提高而提高。低级次的信号则反之。
而对于不同形态的样品测同一元素,甚至是同一类型样品测同一元素但不同含量,原则上来讲,所选择的光谱级次应该都会有所不同,因为这里面需要牵扯到我的光强度信号以及分辨率之间的一个平衡性问题
而目前市面上所存在的这类型的全谱直读
实际上无法做到这种灵活的运用
通俗点讲,现在它们碰到的最大问题在于
在整个波长范围内,220纳米处的分辨率最好,往上区间和往下区间分辨率依次变差
当碰到光谱干扰的时候
这种设计的仪器变得开始无能为力
解决方案一办只能采取迂回战略,比如调整样品前处理,比如通过仪器软件的运算来模拟出被干扰被覆盖出的谱线信号,但这两种方式都有很大的局限性,特别是第二种
创业者
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而LZ所说的分段扫描
实际上和所谓的单道扫描又有所不同
我的理解是
分段扫描实际上就是弹道扫描+CCD检测器而已
也就是说,CCD检测器一次性能做到的光谱范围内,可以做全谱直读
这里就有两种设计
第一,传统的单道扫描+CCD,即大面积大刻线数(如3600条/毫米)的全息光栅一维分光直接对波长进行检测的光路+CCD,光栅每转动一次,可以覆盖大概8纳米以上的范围,在这个波长范围内,可以做全谱直读。
第二,PE公司的7000DV,即同同样是中阶梯光栅和棱镜二维分光,但通过扫描来实现,这种的好处是成本低廉,但每转动一次,光谱覆盖范围短,只有2纳米以内的范围。
如果追求检测效果
无疑是第一种设计的分段扫描
因为第二种方式,实际上仍旧是现在这种全谱直读光路的老底子,只不过通过扫描方式来实现,原有的缺陷和不足全部保留,原有的优势荡然无存。当然,这种设计的仪器贵在技术成熟,配合成熟的软件合理的价格,也能在多数简单领域正常地使用。
创业者
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最后,我对我所翻的错误,也向楼上的各位道歉
这个坛子现在充斥的奸商,伪专家以及铜臭的味道
失去了以往探讨的单纯
导致很多话一说出来
立刻被人指正是拖
以往我犯类似错误的时候
是有很多老师级的人热心给我指正的
只不过,他们现在很少来了,哈哈
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