原文由 haipinghu008 发表:
请问:带EDS的SEM的能探测样品的有效区域为多大?颗粒大小为400nm球状粒子(样品中是非晶态析出晶体,想对晶体作成分分析)能不能用它做准确的元素分析?
理论上说,只要颗粒在SEM上显示清楚就可以用EDS分析,当然束流稳定是应该保证的。用SEM自带的点扫描或面扫描进行效果更佳,也可以用EDS的点扫描功能,但检测过程中需要将SEM设置为快速扫描方式,同时应将对比&亮度调至最低,否则显示器会被亮点烧坏。检测所得结果当然可以定量分析,但是分析时有几点是必须注意的:其一,有与检测样品元素含量相近的标样最好,可将标样与检测样品在相同的检测条件下进行分析(譬如加速电压、束流大小、工作距离等),这样用标样标定的样品准确性会更高;其二,低原子序数的元素(B、C、N、O、F等)定量含量误差会很大,这是正常的,也是目前微束分析仪器没有突破的问题;其三,EDS的一些信号采集参数应该合适,比如死时间不能太长、CPS采集数量足够、干扰信号小等因素都应该考虑。