主题:【讨论】日本电子6510 VS 蔡司M10 VS FEI S50 VS 日立 3400N

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fangyuewan
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单位准备采购扫描电镜+CL+能谱,用于地质样品分析;
大家给给意见。
我考虑的几个因素是:尽可能的多放入光学薄片(50*10mm)。能很好的成CL像图。能谱估计就是牛津的了。
几家的销售工程师都过来过。不同家强调的都不一样;M10的样品室大,但是入口小 100mm;
日立的3400N 样品室大,入口 200m;但是目前似乎停产;
日本电子6510 入口大 150mm,但是样品室小;
FEI S50样品室小,其他没有具体参数。
业内行家给给意见啊。
之前逛论坛说日立的售后天美做的不错;日本电子的真空技术较弱;蔡司的售后技术差;FEI的低真空技术做的好,可是对我们地质行业是否有用,这些都是需要考虑的问题。
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kawagoe
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低真空,都做的不错,不仅仅是FEI可以做。
关键是看,所谓的环扫是否真得有用。
asahi42
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原文由 kawagoe(kawagoe) 发表:
低真空,都做的不错,不仅仅是FEI可以做。
关键是看,所谓的环扫是否真得有用。
地质的确用不上环扫,不过LZ也没有提到过啊。
asahi42
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我觉得Inspect S50的话,还不如讨论FEI的Q45。地质行业的话,去各个地质大学问一圈,或者去北京地科院地调院看看咯~
姑苏一梦
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这个只是从技术来说 如果光从技术来说 S3400N肯定比其他几个要好 再看看价格吧 从性价比和售后等多方面来看
小M
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破破的桥
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其实可以问问各个学校的使用者,估计能有答案,推荐JEOL和FEI的,毕竟产品线从钨丝到透射都有。日立的也不错,不建议买zeiss的,完全没售后。
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2015/5/25 22:52:19 Last edit by v2796080
驰奔
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原文由 破破的桥(v2796080) 发表:
其实可以问问各个学校的使用者,估计能有答案,推荐JEOL和FEI的,毕竟产品线从钨丝到透射都有。日立的也不错,不建议买zeiss的,完全没售后。
不建议买zeiss的,完全没售后。 有这么严重吗? 这么说蔡司该哭了
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