主题:【求助】TEM样品thickness effect 讨论

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黄石道人
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大家好,
TEM样品用于观察现象的薄区厚度一般在100nm以下。
对于原位实验(in situ TEM),所观察的实验现象,受不受 thickness effect(表面能,电子束方向的厚度约束等)影响?
换言之,TEM中得到的实验现象与大块试样的实验现象是否一致?
例如,in situ TEM中界面迁移行为与块体样品中界面行为的对比:in situ TEM中界面是否收到样品表面的影响。
PS. 课题不是讨论thickness effect对TEM观察现象的影响;现在题主做了一个in situ TEM的加热实验,未雨绸缪,怕审稿人问thickness effect这个问题。
当然不同的现象,thickness effect可能影响不一样,希望大家附上参考文献。
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mercurycat
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问题要讲清楚点,什么样品做的什么in-situ实验?成像还是分析?不同情况不同分析
洪星二锅头
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黄石道人
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原文由 mercurycat(mercurycat) 发表:
问题要讲清楚点,什么样品做的什么in-situ实验?成像还是分析?不同情况不同分析


就不在问题改了。直接回复你吧。
Fe的相变。原位加热。
高分辨研究界面运动行为。
此时得到的界面运动规律和实际块体材料中界面运动的规律有区别?
mercurycat
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原文由 黄石道人(v2722760) 发表:
就不在问题改了。直接回复你吧。
Fe的相变。原位加热。
高分辨研究界面运动行为。
此时得到的界面运动规律和实际块体材料中界面运动的规律有区别?
没有区别,除非样品制备或转移样品时造成表面污染。
黄石道人
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原文由 mercurycat(mercurycat) 发表:
没有区别,除非样品制备或转移样品时造成表面污染。


这个出去污染的原因。
怎么论断没有区别呢?
显然薄样品,界面与表面会发生作用啊。
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