主题:【求助】选区衍射确定结构

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linshuifen
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我想通过TEM的选区衍射来来确定某多晶的结构,从选区衍射上得到了多晶衍射图谱,并且量了其晶面间距满足FCC的消光条件 3:4:8:11:12:16:20:24。另外从高分辨图像上我们也看到了属于立方结构或者四方结构的正方形格子以及只属于立方以及六方的正六边形格子,请问这样的话能确定晶体结构是FCC吗



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xuaiqun
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linshuifen
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谢谢版友解答
我们现在有两个问题让人比较困惑。
1.一般而言都是采用XRD来确定结构,我们现在采用的则是选区电子衍射来定结构,我们注意到不同晶面的强度跟相同材料的XRD有比较大的差异,这是什么原因导致的呢?两种实验不是都由于满足布拉格衍射以及消光条件得到的衍射斑点吗?
2.高分辨会有一些假象,会不会是由于多重散射效应导致出现一些衍射禁止的斑点从而产生正方形的格子呢?其实我们采用NBD也得到了正方形斑点。另外我们是薄膜样品(<15nm),根据威廉姆斯书上的分析,200Kev电子的平均自由程是要大于15纳米的,那能不能定性的排除正方形可能是由假象导致的呢。
xuaiqun
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原文由xuaiqun(xuaiqun)发表:应该可以的。
原因一是原子的x射线散射因子与与原子的电子散射因子不同。原因二是电子衍射中二次衍射比较厉害。可能还有其它。如果你用NBD得到正方形斑点。那更好啦。可以与衍射环结合起来。相互验证。假象是不会的。在电镜的真空中,电子的自由程应该很大。你讲的可能是电子在样品里的散射自由程。这不会形成什么假象吧。
linshuifen
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抱歉回复晚了。
对于第一个问题。嗯,确实是由于散射因子的不同导致的,之前并没有想到这个问题。刚查阅了PDF卡片,标的峰也都是满足消光条件的,只是有些峰特别弱。那么这样的话,在电子衍射上应该就是也只会出现不满足消光条件的峰。
对于第二个问题,我之前理解的是由于电子的平均自由程相对来说比较大,而衍射本身是由于电子的弹性散射在一定方向上加强导致的,所以才认为二次衍射效应在很薄的样品里并不是很严重,是不是我弄混了概念了。。。PS.电子的二次衍射效应很厉害,不是由于多重散射效应麽?
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2015/12/7 10:44:09 Last edit by v2937561
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