【专家讲座】:扫描电镜样品制备之无应力切割技术及应用实例
【讲座时间】:2016年03月30日 10:00
【主讲人】:童艳丽 徕卡显微系统纳米技术部资深产品专家。
【会议简介】
扫描电镜,如果要看到样品内部结构,往往需要样品制备。例如看多层膜材料截面;抛光硬质合金(极硬),铝镁合金(极软)等;制备陶瓷样品;制备泥页岩样品;对电子元器件经进行失效分析等。
然而通过传统的机械切割研磨方式往往造成应力损伤层,在SEM下看到的几乎全是假象,而无应力切割技术可有效制备样品获得真实内部结构。徕卡提供独家的三离子束切割及抛光技术,几乎适用于各类样品,获得样品真实内部结构。并且操作极其简单。
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1、报名条件:只要您是仪器网注册用户均可报名参加。
2、报名截止时间:2016年03月30日 9:30
4、报名参会:
http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting/meetingInsidePage/18945、报名及参会咨询:QQ群—171692483