主题:【求助】请问热电的icp TEVA软件,如何剔除干扰峰?

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henryliwei
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请各位高手,帮忙看一下附件中的谱图,Hg194仪器计算出来是有0.9几ppm的浓度,但是应该是有干扰峰,而且整个基线都高了。请问用TEVA这个软件,是怎么能够剔除这些干扰?
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LiveBandit
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只是尝试:
1.适当改变一下等离子体的设置条件,可以将汞单独的一个条件进行分析;因为这四种元素的物理性质相差较大,分开测定可能相对好些;
2.现在的Subarray的width和height是15×3;将其比例改为25×3,这样在谱图中dλ值会大于现在的0.050nm的,使进入谱图的左右空白平坦区域增加,选择左右扣空白点相对容易些;并且谱峰会相应变“瘦”。
霍苦堵
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Hg的吸附力太強了,還是用氫化物發生器好點,要不一般都很難做出比較好的結果的
霍苦堵
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maerbing
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我用的也是中文的TEVA软件,方便多了!同意上面说法,缩短背景,吸收峰的宽度,最好是中间吸收峰的宽度是2个单位,背景分别是1个单位。
zhjf1983
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中文的太帅了
从哪里弄的呀
我们单位的是英文的
实在是费劲呀
andy5922
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我的是英文的啊,英文不太灵光啊.老兄有中文安装包吗?发个给我就好了! andy80922@21cn.com
yangyango2
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我刚学ICP-AES说不对的地方大家指教一下!
图上的强度太小!是标样?是的话!这样的线不好测样的!
换个线!或者改变参数试试!
再不好的话!找出干扰的!然后在空白里面加如相应的量!这样来扣除干扰!
不知道可以?
谢谢指教!另外,中文的软件好羡慕!
cnw881
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原文由 wangfeidown 发表:
只是尝试:
1.适当改变一下等离子体的设置条件,可以将汞单独的一个条件进行分析;因为这四种元素的物理性质相差较大,分开测定可能相对好些;
2.现在的Subarray的width和height是15×3;将其比例改为25×3,这样在谱图中dλ值会大于现在的0.050nm的,使进入谱图的左右空白平坦区域增加,选择左右扣空白点相对容易些;并且谱峰会相应变“瘦”。

请教,在那里改Subarray的width和height?
shmilu
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原文由 zhjf1983 发表:
中文的太帅了
从哪里弄的呀
我们单位的是英文的
实在是费劲呀

重装一个中文操作系统就达。
LiveBandit
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原文由 cnw881 发表:
请教,在那里改Subarray的width和height?


method->elements->对应元素谱线->subarray
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