原文由 SidLee(v2697000) 发表:你的SIM可能有增益加成的 而且扫描是scan,sim,scan,sim交替的,采集的时间点都在不同的位置,就好比一个峰你采集到封顶和封顶边上的点做出的峰形图面积不一样正常的,如果没有设置emv增益,那么峰面积应该差异不会太大,当然也跟你设置的scan和sim的时间有关系,总循环时间短扫描频率高,每个峰采集的点数多那么峰就更逼真,scan和sim也越相近想了一下,有可能跟它的扫描模式有关,SIM是一种模式,SCAN是另一种模式,于是会得到两种不同的结果。你提到的关于交替循环扫描,也有道理,只是MC比SIM大了10倍,况且我不要SIM的情况下,MC的强度还是和原来差不多,交替过程对强度影响不大!后来我试了一下把SIM的扫描驻留时间延长,还是一样,说明时间对SIM强度也没有多少影响,真心想不通了!