显微系统的定位问题是比较关键的技术难点。
有时要对比样品处理前后的不同，那么最有说服力
的就是同一个地点的对比图。但是在amf实验时
比较难以找到上一次的地方。要做标记，就这个问题希望大家
讨论一下。
我现在的标定方法是两步：1.在宏观下先标定出一个大概范围
这样比较容易找到上一次的地方
2.我用纳米刻痕在样品中标定，这样就能比较准确地找到同一位置
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2007/1/21 3:45:00 沙发管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

以前看过FEBS上一篇文献用electron microscopy grid来定位，将grid粘在圆铁片上，然后粘上云母；另外还有国内上海应用物理所，用光学标记和AFM标记的方法来定位，06年发表在国内的文献上，你可以搜索一下：《一种高效、简便原子力显微镜液体中原位实验方法》。

原文由 qijw 发表:
显微系统的定位问题是比较关键的技术难点。
有时要对比样品处理前后的不同，那么最有说服力
的就是同一个地点的对比图。但是在amf实验时
比较难以找到上一次的地方。要做标记，就这个问题希望大家
讨论一下。
我现在的标定方法是两步：1.在宏观下先标定出一个大概范围
这样比较容易找到上一次的地方
2.我用纳米刻痕在样品中标定，这样就能比较准确地找到同一位置
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jeasy

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2007/1/25 20:48:00 板凳管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

不太会说
原位扫面是不是在不抬针的情况下，检测随时间变化的样品

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2007/1/25 20:56:00 马扎管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

你说的一般用来是研究相互作用，比如药物与蛋白等
楼主关心的是抬针拿走样品后对样品进行一系列操作，比如加温，辐射等，再又拿回重新扫描，这个时候需要定位回原来扫描的位置。

原文由 jeasy 发表:
不太会说
原位扫面是不是在不抬针的情况下，检测随时间变化的样品

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jeasy

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2007/1/25 21:11:00 地毯管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

哦，明白了
楼主的办法不错，那就标记吧，先扫大范围，逐步缩小

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leaflet

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2007/3/7 21:57:00 地板管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

我原来也做过这方面的实验，先是在样品上做宏观标记，并标记样品在样品台的位置，利用CCD找到样品上的标记，并调整样品位置，使标记在CCD窗口中比较容易分辨的位置上（如在一角或网格线的某个地方），然后先扫描一个大范围，如果没发现上次的区域，就以刚扫描的图片的四角为中心扩展扫描，基本上就能找到了。

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2007/3/14 5:49:00 6楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

总觉得说原位似乎更准确一些。
显微系统的定位问题，让我想到的意思是“显微系统在整个科学中的位置”

原文由 qijw 发表:
显微系统的定位问题是比较关键的技术难点。
有时要对比样品处理前后的不同，那么最有说服力
的就是同一个地点的对比图。但是在amf实验时
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