主题：【分享】光电子器件环境可靠性试验方法

      如今，通信设备的制造厂商，对光电子器件的可靠性要求越来越高，光电子器件和通信设备的制造厂商之间没有专门的、统一的光电子器件可靠性试验很难进行有效的沟通，影响产品可靠性的提高。而电子器件可靠性评估是指对电子器件产品、半成品或模拟样片（各种测试结构图形），通过各种可靠性性试验、加速寿命试验和快速评价技术等，并运用数理统计工具和有关模拟仿真软件来评定其寿命、失效率或可靠性质量等级。下面，雅士林整理了光性的试验方法供给大家参考。

　　1、高温贮存：确定光电子器件能否经受高温下的运输和贮存，以保证光电子器件经受高温后能在规定条件下在高低温试验箱正常工作。

　　试验条件如下:

　　贮存温度：（85±2）℃或贮存温度；

　　贮存时间:2000h。

　　进行试验:

　　A）试验前测试试样的主要光电特性；

　　B）把光电子器件贮存在规定试验条件的高低温试验箱中，在开始计时之前应有足够升温时间，使所有试样处在规定的温度下，温度传感器应位于工作区内温度。

　　C）在达到规定的试验时间后，把试样从试验环境中移出，放置24h，使之达到标准测试条件，并对试样光电特性进行测试。验完成后，应在48h内完成试样的主要光电特性测试，并进行目检。当有规定时，也可以在试验过程中的某些时刻进行测试。

　　2、恒定湿热：本试验的目的是测定光电子器件承受高温和高湿的能力，以及高温和高湿对器件的影响程度，保证光电子器件的长期可靠性。试验设备为在加载负荷时能为工作区提供和控制规定的温度、湿度、热容量和空气流量的恒温恒湿试验箱。

　　试验条件如下:

　　温度:＋85℃；

　　湿度:85%RH；

　　保持时间:500h（不加偏置）或1000h（加偏置）；

　　规定的偏置电压或电流（适用时）。

　　进行试验:

　　a）试验前对光电子器件的主要光电特性进行测试；

　　b）将光电子器件放进恒温恒湿试验箱内，其摆放位置不应妨碍试样四周空气的流动；

　　c）试样在规定条件下连续完成规定的试验时间。

　　d）试样基材或外包材（如封帽，引线，封套等）腐蚀面积超过5%，或贯穿性腐蚀；

　　e）引线损坏或部分分离；