主题:【原创】【我们不一YOUNG】MS基本参数—质量分辨率R

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MS基本参数—质量分辨率R



GC-MS联用仪所测的质谱图上,R表征了分辨相邻两峰的能力。计算公式:R=[(M1+M2)/2(M2-M1]·(L/W5%),其中M1M2为相邻两峰的离子质量数,L为它们分开的距离,W5%为离子峰峰高水平%处的宽度。LW5%单位应一致(mmamu)。

并列质量分析器常用指数扫描,谱线间隔非等宽,但分辨率在整个质量范围内相等;四极质量分析器线性扫描,单位质量分辨,最高可测质量数即为最高分辨率。常以半峰W1/2作峰宽计算分辨率(如峰形呈高斯分布,W1/2= W5%/2)。

小型<1000

中型~2000(四极)

~5000(磁式)

大型>2000(四极)

>10000(磁式)

1、决定于质量分析器的设计参量(如磁场曲率半径、离子出口缝大小、离子在四极场的振动周期数等)

2、真空度越好,R越大

3、扫描速度越快,R越低

4、离子检测系统响应时间常数τ越小,R越大
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