原文由 RENXIN 发表:
原文由 zongweixu 发表:
闪烁体污染、探头高压、光电倍增管、电源干扰、地线干扰.......
工程师说应该不是高压引起的(其引起的是图像扭曲),电源和地线干扰的可能性不大,可能就真是探头脏了。。。
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您的安装工程师水平太差了, 对着探头吹气真是太可笑了, 看来FEI只知道卖SEM, 技术服务实在难以恭维。
SEMUSER朋友的五种推测是相当准确的。
版主大人, 我就是那位您觉得可笑的工程师, 本人入行不久, 且才疏学浅, 承蒙您的批评指教, 既然您觉得SEMUSER说的五种推测是准确的, 那么我就不明白了, 如果您是工程师的话您会怎么去做, 首先带着所有环境测试的设备去测场地?测地线也不是拿万用表就能量的;我想所有思维正常的人都会首先去检查最直观的的地方, 也就是GRID 和闪烁体,闪烁体和导光管最简单有效的清洁方法就用气吹洗,拆下探头在CHAMBER内的部分去吹洗(客户做过粉末样品的尤其)只有先排除这些最容易检查的地方后才能继续检查其他的地方或者替换探头高压板之类。
希望本人不会导致您对FEI的反感。FEI不是只知道卖SEM的, 感觉您有些商业攻击的意思了,还有售后服务的技术也不劳您恭维了, 广大FEI的用户比您有发言权。
得罪了, 感谢对此版的管理, 让大家有这么好的交流空间,我也会从今开始多向包括您在内的专家们多学习, 共同提高我们的应用及维修水平。