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ID:niunumberone
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ID:xuefeng1119
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原文由 xuefeng1119 发表: 由于x荧光光谱是表面分析,分析深度只有几个微米,因此对于粉末分析,x射线的强度可能随样品粒度和样品的不均匀性而变化,这个现象是粒度效应。 x射线的强度随分析组分的化学结构和矿物晶体形态不同而变化的现象称为矿物效应。 这两个效应可通过制成玻璃融片或粉碎样品减小
ID:dxfjh
ID:mylifedx
ID:albert800922