High Angle Annular Dark Field STEM (HAADF STEM)
通常我们提到STEM都是指HAADF STEM. 很多人简称ADF STEM. 这里面的high angle其实是很重要的。因为high angle scattered 的电子忘记了相位,所以最后得到信号是incoherent叠加的。low angle的electron会引入diffraction contrast, 在通常情况下,使用ADF STEM是希望Z-Contrast,那么diffraction contrast就会引入artifact. STEM和TEM相比最大的好处就是基本没有artifact,这个对于看boundary的时候至关重要。
另外,如果引入bright field detector,那么我们就有bright field STEM,这个相当于fake TEM.
另外就是我们组发明的Incoherent bright field STEM. 这个对于做非常厚的金属材料的electron tomography非常重要。
原文由 liutw30 发表:
TEM和STEM图像在相同的倍率下有什么差别?如何实现在F20 TEM模式下进行EDS分析?