原文由 liugw123450 发表:
我们公司有一种仪器:NKD(折射率、绝对吸收系数、厚度)测量高级薄膜表征系统,可以满足楼主的要求。应该是一个比较理想的工具。
与椭偏仪相比,主要优点有:
可对透明基片进行测定,而不需要对样品进行前处理,(椭偏仪不能测透明样品,对于透明样品需要做特殊处理,很麻烦)波长范围宽,同时测定反射光与透过光,准确测定n k d值,大的角度范围,
计算简单,椭偏仪数据处理很复杂,需要很专业的知识。
光谱范围:280-2300nm
光谱分辨率:1nm
厚度范围:1nm-25um
最多可以测五层薄膜
基片:透明、半透明、半吸收、半导体
角度范围:0-90度
感兴趣请跟我联系:
13146188127
刘先生
北京