主题:【讨论】熔融法前处理样品 对进样系统的影响

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囡囡0831
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熔融法前处理样品 对进样系统的影响
雾化器为交叉型
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原文由 zxj0831 发表:
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熔融法前处理样品 对进样系统的影响
雾化器为交叉型


ICP-AES需要考虑分析试液中总固体溶解量(TDS),高的TDS将造成:
A.  基体效应干扰
B.  谱线干扰和背景干扰
C.  雾化系统及ICP炬的堵塞。
一般来讲,对于TDS在10mg/ml左右的试液,在不是长时间连续进样时,是不会堵塞的,但A)、B)两点将明显地存在。
在常规分析工作中,分析试液的TDS希望愈低愈好,一般控制在1 mg/ml左右,在测定元素灵敏度满足的情况下,有时TDS控制在0.5 mg/ml以下。因此,ICP-AES的样品处理在尽可能情况下采用酸分解而不用碱融,稀释倍数为1000倍左右。很多样品常压条件下不能为酸(湿法)所溶解,例如刚玉、铬铁矿、锆石等等,这时就需要用碱融(干法),但碱融时就要考虑到TDS与样品中被测元素含量的关系。采用密闭罐增压(湿法)溶样的方法,可以解决很大部分需用碱融的样品的分解。
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