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扫描电镜（SEM/EDS）
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主题：【讨论】请问粉末样品如何观察切面

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lipinggnipil
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发表于：2007/07/04 10:35:00 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
氧化铬粉末，粒度在2微米左右，分布窄，为了达到一定性能，掺杂了一定物质，理论上掺杂物质进入了氧化铬的晶格间隙，ICP测量发现几种掺杂物质掺杂量在0.5%。

打算通过SEM+EDAX达到如下目的：
观察到掺杂成分的存在和分布状态！！

而普通制样方法下扫描电镜图谱如附件所示，EDAX观察发现不了任何掺杂成分的存在。

请问该用什么方法能够达到上述目的？
我想通过观察粉末截面的方式，那么请问该如何制备粉末以使能在SEM中观察到截面

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lipinggnipil
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2007/7/5 17:16:00 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
请版主将帖子改为求助帖，发贴不小心错误！
敬礼！
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