主题:【求助】红外可以测材料界面么?

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xiaoxi_821
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红外可以测材料界面成分么?
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fjx2008
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可以啊!我觉得ATR在测定材料界面方面有着独特的优势。
但它只能测定样品最外边一层,以Ge45度反射角为例,测定的深度为0.39um.
xiaoxi_821
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fjx2008
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这要看你表面成分是有机还是无机的!如果是有机的,作EDS只会打出C的Ka.
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xiaoxi_821
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有机的作EDS只会打出C的Ka~~~~这个是什么意思啊 ?
fjx2008
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无机的,测能谱、XRD、XRF皆可。

有机的,测红外ATR.

效果比较好!
fjx2008
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xiaoxi_821
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白水山石
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红外的ATR附件用来测界面材料是可行的,用的晶体不同,所测的膜的厚度不同,现在用来测膜材料的红外附件还是很多的,除去用所用晶体的区别外,还有不同镜面角度的附件,有机的膜肯定是用红外测好,无机的可用能谱来测
zhangyu506
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