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主题：【求助】碳化硅块体材料透射电镜制样问题

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ggwwmm1234
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发表于：2008/12/03 11:32:38 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
各位高手，我的样品是碳化硅陶瓷，硬度比较高，很难磨，并且我还没有制过透射电镜样品，只是在网上看了一些资料。请问切片用什么设备？磨薄又用什么？我的样品脆性较大，可以挖坑么？
制样的过程中有哪些需要特别注意的问题呢？
谢谢各位！！
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2008/12/3 18:21:33 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
必须研磨吗？直接敲碎用粉末行不行？
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ggwwmm1234
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2008/12/3 21:49:21 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊

必须用磨的方法，我的颗粒较大，敲碎了就不能确定观察的位置了，还有请问这种制样方法能够观察到多大的范围？可达数十个微米么？
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蓝莓口香糖
drizzlemiao
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2008/12/6 20:30:15 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
离子减薄的穿孔范围达到几十微米没有问题。如果你对观察位置的精确性要求很高，恐怕只能FIB了。
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Ins_4a24714c
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2021/3/11 16:51:56 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
    老师，您好！

        想问下您现在对于这类材料我们是怎么处理的？
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