主题:【求助】喷金需要给样品整体喷还是只要给观察面喷就行了

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agenesy
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有一个长方体样品晶体,本身也可以导电的,但是觉得拍出来的照片精度不够高。
于是,在要观察的那个表面喷金20纳米厚,发现图片的精度没有提高。
同事说我这样表面喷金没用,应该给整个晶体至少连接到导电样品台的那部分侧面也都喷金,才可能有提高。
对SEM的工作原理也不太懂。所以上来求教,希望高手指点迷津。
喷金如果提高的是导电性,是哪部分到哪一部分的导电性呢?谢谢。
推荐答案:syning90回复于2009/11/27
喷金要保证样品和样品座导电相通啊,就是说多余的电子打到样品上以后,要从样品座导走,否则就会产生电荷累计,所以,一般喷金尤其给非导电样品喷,不能只喷表面,要连铜柱一起放进去,喷金
补充答案:

fengyonghe回复于2009/11/26


驰奔回复于2009/11/26



长方体侧面溅射镀膜效果比表面差得多,最好用导电胶带把表面和样品杯连接一下!
还有一点需要注意,二次电子产额(信号强度)随着原子序数的提高到一定程度增加并不明显,然而和倾斜角(入射方向和法线夹角)度关系很大!

二次电子产额δ 随原子序数的增加变化曲线。

二次电子产额和倾斜角度的关系曲线!

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原文由 agenesy(AGENESY) 发表:
有一个长方体样品晶体,本身也可以导电的,但是觉得拍出来的照片精度不够高。
于是,在要观察的那个表面喷金20纳米厚,发现图片的精度没有提高。
同事说我这样表面喷金没用,应该给整个晶体至少连接到导电样品台的那部分侧面也都喷金,才可能有提高。
对SEM的工作原理也不太懂。所以上来求教,希望高手指点迷津。
喷金如果提高的是导电性,是哪部分到哪一部分的导电性呢?谢谢。


长方体侧面溅射镀膜效果比表面差得多,最好用导电胶带把表面和样品杯连接一下!
还有一点需要注意,二次电子产额(信号强度)随着原子序数的提高到一定程度增加并不明显,然而和倾斜角(入射方向和法线夹角)度关系很大!

二次电子产额δ 随原子序数的增加变化曲线。

二次电子产额和倾斜角度的关系曲线!
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楼主可以估算一下长方体样品晶体的平均原子序数,看是否需要喷金来提高产额。
最好方法是向探测器方向倾斜!大角度倾斜可能需要 动态聚焦。如果需要还原正视图,还需要倾斜补偿!
rainflying666
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喷金要保证样品和样品座导电相通啊,就是说多余的电子打到样品上以后,要从样品座导走,否则就会产生电荷累计,所以,一般喷金尤其给非导电样品喷,不能只喷表面,要连铜柱一起放进去,喷金
agenesy
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二次电子产额(信号强度)随着原子序数的提高到一定程度增加并不明显,然而和倾斜角(入射方向和法线夹角)度关系很大!
多谢驰奔同学!
受教了~ 原来需要不需要喷金,还是可以计算的!多谢!:)
agenesy
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二次电子产额(信号强度)随着原子序数的提高到一定程度增加并不明显,然而和倾斜角(入射方向和法线夹角)度关系很大!

请教驰奔同学的图片是从哪一本书里面找到的?也想拿来看看。再次感谢!

驰奔
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原文由 agenesy(AGENESY) 发表:
二次电子产额(信号强度)随着原子序数的提高到一定程度增加并不明显,然而和倾斜角(入射方向和法线夹角)度关系很大!
请教驰奔同学的图片是从哪一本书里面找到的?也想拿来看看。再次感谢!

j.i.goldstein 等著,张大同译<<扫描电子显微技术与X射线显微分析>> 有相关描述。图差不多,不完全一样。书八十年代出版比较老,估计不好找.
这里的图表是一次培训的PPT上摘下来的。
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