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ID:jinqiangyu
行业:其他
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ID:fragr
原文由 jinqiangyu(jinqiangyu) 发表: 我在用岛津RF-5301型荧光分光光度计测固体薄膜样品时发现,放置不发光的样品(硅片,铝片,或者什么都不放,只有固体样品架),用300nm左右的光激发,发现在360nm处有峰(我觉得应该是一条平线)。改变激发波长,峰位略有移动;开大狭缝,峰强变大。我在另一台同型号的光度计上也发现这个问题。不知是什么原因? 请教各位:有没有用同型号的仪器或者别的型号的仪器测试发现上述问题,请教是什么原因?
ID:ding6602