假如在没有扫描样品时给压电陶瓷的一个轴加上交流电 压电陶瓷的自由端的摆动轨迹应该是一弧形(你可以把它想象成一只钟摆 当然这并不贴切 因为它的轨迹并不是圆弧) 你用tapping扫描一个平的表面时 在偏离中心的地方为了保持的你振幅的设定值 压电陶瓷在z轴上比在中心位置伸长更多 尤其是在扫描范围越大 弓形效应越明显 而且压电陶瓷在样品端的AFM也会比在扫苗头端的要明显 另外这两种扫描方式 根据压电陶瓷和样品台或者针尖的耦联方式的不同 可能会造成两遍高中间低或者两边低中间高的这两种不同的弓形效应 但根本的原因都是一样的
对于弓形效应 一般通过AFM自带的软件处理就可以消除 (一般都通过多项式拟合) 仔细看看软件的help文档 应该有相关算法的介绍:)