主题:【求助】原子荧光测定化妆品中的汞质控样品结果一直偏低

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keelemma
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近期实验室进行过两个质控样品的测定,结果都是满意结果下限值的70%左右(下限值1.99,我们的测定值在1.50左右,

下限值3.26,我们测定值为2.30左右),想请教一下,为什么会出现这种情况?我们实验结果的平行性还是很好的,再现

性也很好,标线都在三个9 以上,就是结果一直偏低。想请教一下可能是什么原因造成这样的结果的

我们采用的是《化妆品安全技术规范2015版》,原子荧光光谱法测定,北京海光AFS-230E,前处理为微波消解法。

实验操作过程简述如下:先加入0.5g样品,加8ml硝酸,过夜放置,然后加入2ml30%双氧水,100℃水浴20min,

冷却后进行微波消解,结束后样品冷却至室温,进行水浴赶酸(时间5-15分钟,温度80-100℃,经测定结果无差别),

结束后待样品冷至室温,移至100ml容量瓶定容,移取1ml至10ml容量瓶,加0.5ml盐酸羟胺,1ml盐酸,用水定容至刻线,

用于测定。
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keelemma
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huangza
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试剂空白偏高,排查下使用的试剂;标准溶液储备液用重铬酸钾-硝酸溶液保存,使用液要同步加盐酸羟胺和盐酸。
wangjunyu
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第一:你需要按照楼上说的先验证一下是否标准和样品是否有基体匹配,一般是需要尽量一致。第二:你可以配置一个液体质控样来验证一些曲线是否准确,如果液体质控样会准确那你可以排除标准曲线的问题。第三:你可以把样品在稀释一倍看看强度是否会上去,排除一下基体的干扰
keelemma
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原文由 huangza(huangza) 发表:
试剂空白偏高,排查下使用的试剂;标准溶液储备液用重铬酸钾-硝酸溶液保存,使用液要同步加盐酸羟胺和盐酸。


① 试剂空白一般是多少合适?测试了一下试剂空白和标准溶液的荧光强度,发现试剂空白的荧光强度=仪器空白荧光强度,而标准溶液在样品测试页面的荧光强度=标准溶液测定的荧光强度+仪器空白荧光强度,也就是样品测定页面的荧光强度是没有减掉仪器空白的,而标液测定页面的荧光强度是减掉仪器空白的。这样的话是不是可以认为试剂空白和仪器空白是一样的呢?

如果不是,该如何排查试剂?还用使用消解过程么?

②  我们的标液是没有加盐酸羟胺的,只加了盐酸,按照《化妆品安全技术规范》2015版方法做的,之前读的时候觉得有些不对,和样品处理方法不对应,这个是一定要加进去的吗?

这个实验我们重复了十几次了,都是比质控样偏低1/3,换了两个厂家的三个质控样,都得到一样的结果。
keelemma
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原文由 wangjunyu(wangjunyu1113) 发表:
第一:你需要按照楼上说的先验证一下是否标准和样品是否有基体匹配,一般是需要尽量一致。第二:你可以配置一个液体质控样来验证一些曲线是否准确,如果液体质控样会准确那你可以排除标准曲线的问题。第三:你可以把样品在稀释一倍看看强度是否会上去,排除一下基体的干扰


谢谢您的回复。

第一点确实做得不太一致,因为以前没有做过,就按照《化妆品安全技术规范》2015版来做的,标液没加盐酸羟胺,样品加了,这个可能是个问题,我再试一下。

第二,液体质控样的配制,是需要重新打开个标准物质来配制吗?如果还是从汞标液1或者2来稀释配制的话,感觉和标线是可以很好符合的

第三,样品之前做过减少稀释倍数的,值基本不变,增加稀释倍数的没做过,我们试一下。
keelemma
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另外,我们做了一下液体加标的回收率,在110-115%左右,可否认为样品在消解赶酸处理过程中没有过多损失,造成1/3的结果?
化学潜行者
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个人认为前处理有损失,但是标液没有做前处理,所以偏小。那标准都是比较完美情况下做的,然后其他也要按照标准才做,还把检出限搞的很低,估计厂家的质控样要直接测,可能不需要经过前处理。
化学潜行者
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还有你空白很大,还稀释100倍???稀释后就是空白的二倍?100???误差能不大吗?
keelemma
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原文由 化学潜行者(Ins_d4ab5126) 发表:
还有你空白很大,还稀释100倍???稀释后就是空白的二倍?100???误差能不大吗?
试剂空白和样品同样处理,所以稀释倍数也相同。现在看测定后样品空白和标准空白很接近,但样品浓度总是偏低1/3左右
keelemma
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原文由 化学潜行者(Ins_d4ab5126) 发表:
个人认为前处理有损失,但是标液没有做前处理,所以偏小。那标准都是比较完美情况下做的,然后其他也要按照标准才做,还把检出限搞的很低,估计厂家的质控样要直接测,可能不需要经过前处理。
我们加标是和样品同样处理和测定的,加标回收率是110%左右。厂家的质控样是沐浴液洗发水这样的样品,只是有个满意值的范围,是需要消解处理的。
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