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主题：【已应助】请教一下扫描电镜面扫图问题

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Insm_991b51a
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发表于：2021/01/20 23:31:28 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
我对涂层中的碳化钨颗粒进行面扫描，按道理颗粒里面都是W和C元素，周围基体里主要是其他元素，但是我做完后发现Si元素含有很多，几乎和W元素一样了
推荐答案：砂锅粥回复于2021/01/21
楼主是否用了含硅的材料去磨的这个样品？碳化钨合金是没有添加硅这个元素的。另外，图1的比例尺是100μm吗？碳化钨的颗粒不会达到200~300μm的。
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czcht
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2021/1/21 9:57:45 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
楼主是否用了含硅的材料去磨的这个样品？碳化钨合金是没有添加硅这个元素的。另外，图1的比例尺是100μm吗？碳化钨的颗粒不会达到200~300μm的。
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2021/1/21 9:58:24 Last edit by czcht
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2021/3/9 15:10:39 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
W元素的Mα特征X射线的能量为1.7744Kev ,Si元素Kα特征X射线的能量为1.7397，它们之间只差三十几个电子伏特，不容易分辨出来。
可以通过处理软件确认下，到底有没有。另外提高采集时间。
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canne_yswei
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2021/4/28 11:48:45 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
用25KV的加速电压做面扫描。W的面分布用K线系。应该能区分开。
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