主题:【求助】原子荧光

浏览0 回复10 电梯直达
Insm_66096245
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各位,操作手册上写原子荧光在测样品时要先测标准空白,然后测样品空白,之后才测样品。但是重测标准空白后标曲不得重测吗?
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检测老菜鸟
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Insm_66096245
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原文由 检测老菜鸟(v3295053) 发表:当成样品测     
具体是什么意思呢?我用的是海光AFS―9700
sdlzkw007
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理解错了,按照标准曲线做法出来一条线然后把标准空白,样品空白和样品依次测试,重点控制好两个空白。
Insm_66096245
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原文由 sdlzkw007(sdlzkw007) 发表:理解错了,按照标准曲线做法出来一条线然后把标准空白,样品空白和样品依次测试,重点控制好两个空白。
测样品空白的意义是为了测样品时扣除,那测标准空白是为了什么呢?而且我再测标准空白不会对之前的曲线有影响吗?
tiger204
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标准空白一般都小于样品过程空白,只测样品过程空白就够了,个人觉得没必要再测标线空白了,而且很多仪器都会自动减去标准空白,再测一次也是零左右
平仔
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原文由 Insm_66096245(Insm_66096245) 发表:
测样品空白的意义是为了测样品时扣除,那测标准空白是为了什么呢?而且我再测标准空白不会对之前的曲线有影响吗?
对曲线不会有影响,在同条件下曲线已经走出来了啊,个人认为走完曲线再走标准空白没有意义。
Insm_1143409e
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AFS9700里面测完曲线后可以测样品空白,你在操作界面上找一下,不会覆盖掉曲线的,如果不测样品空白,测试值会偏高的。
迷宫H
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你可以把标准空白当成载流空白 这样就很好理解了
Insm_1143409e
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原文由 Insm_1143409e(Insm_1143409e) 发表:AFS9700里面测完曲线后可以测样品空白,你在操作界面上找一下,不会覆盖掉曲线的,如果不测样品空白,测试值会偏高的。
AFS9700是先测标准空白,然后测标准曲线,标准曲线计算时仪器会自动减掉标准空白值,然后测样品空白(仪器带这个功能的),再测样品,样品先减去样品空白再代入曲线计算。
huangza
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测样品不用先测标准空白了吧,只要测样品空白就行了。不过测完几个样品后,返测标准曲线的某个点还是有必要的。
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