主题:【分享】------ICP发射光谱常见问题!!!!

浏览0 回复123 电梯直达
hewanjin
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海涵
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qmj9876
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使用ICP-OES测试玩具所用的标液具体是怎么 配置的?怎么处理Sb的介质跟其他单标介质不同的问题?
kezi_abc
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pengwenqi
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hb-hd-wy
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原文由 wccd 发表:
原文由 zhangji569 发表:
楼主,我们的ICP-AES经常在停电后的两天里都不能正常点火,知道怎么处理不?



1,氩气微漏管道内混入空气,  处理--检查泄露,检查压力,排除混合气.
2,高压点火线圈几放电间歇受潮,  处理--加强除湿,加长仪器预热时间.
3,机内硬件系统参数发生变化,  处理--(1)运行硬件自检诊断程序,判断硬件参数是否正确,(2)运行硬件初始化数次,(3)如果有条件可进行硬件自校调整,如果无条件由厂家技术员完成.
4,RF发生器匹配不佳(发射功率偏小发射功率偏大)或受潮预热不足,  处理--经常定时给仪器通电预热,烘潮气,经常观测RF发生器发射功率是否正常.
5,操作软件系统联机通讯参数初始化未完成,  处理--检查计算机联机通讯是否可靠,软件运行是否受到干扰,程序是否染毒,参数选择是否正常等等.
6,某些特定的传感器检测到系统异常,系统进入保护状态.    处理--侧重检查水,电,气各项指标是否正常,环境温度,湿度,水压,气压,电压,仪器内部的电磁阀,限压阀,限流阀,压力检测表,流量计,门限保护开关,继电器触点,仪器接地可靠性等......都是影响仪器正常工作而不可忽视的因数.

感觉这位是个行家,学习学习。
hb-hd-wy
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原文由 wccd 发表:
原文由 jianjun800 发表:
学习了,谢谢,
我们的仪器感觉漂移太严重,2%以上,不知有没有方法解决



影响仪器漂移因数较多,归根结底主要是基线漂移导致测试参数发生漂移.
1.电气参数的漂移主要是电子元件受温度影响,电子元件的老化,电源的干扰,电压,电流,传感器,仪器接地(地阻)的可靠性等.
2.光学系统的漂移,光路,光电(倍增)管,CCD,光栅狭逢,分光系统等.
3.机械系统的漂移,真空度,光路的机械装置,气路管道及压力,炬管雾化等.
4.软件系统受干扰误判参数,程序染等.


不好意思,本人对此了解较少,请问基线漂移指的是什么,是指的元素的分析谱线么?学习学习。
fqlp0606
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david_051
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今天刚刚做了ICP-AES实验,楼主讲的很有用哦,谢谢了。
pxf
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