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ID:ce_nakata7
行业:其他
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ID:wgx_xx
ID:ppccxx
原文由 tzl75 发表:0.50PPMAg的两个谱图是在同一波长,不同级次下同时测定出来的,第一个是1级,峰搜索范围为0.08nm第二个是2级的,峰搜索范围为0.04nm,从发射强度看2的发射强度有所降低,同时背景强度增大了1倍多,也有其他谱线的干扰,再看看SBR,别小瞧这个东西,SBR在分析中很重要的,假如再分析中遇到要测定低含量的元素,而其谱图有点和2一样,或者比2的光谱重叠更厉害,那就要考虑采用IEC了,用校正因子来解决这个问题。
ID:tzl75
原文由 tzl75 发表:这个有说明了什么问题,
原文由 tzl75 发表:其实就是干扰系数,干扰因子,一般用他来描述干扰元素对被分析元素的干扰程度,当分析谱线与其他谱线存在干扰时,可通过干扰系数校正来进行测定,就象“W中Mo测定的哪个帖子”我发的谱图,当光谱出现那样的干扰时就可以采用他来分析,不过,现在的机子好多软件都设定好了,你直接进行测定,计算机回自动算出K的,好好看看你的说明书,话说回来,一般都很少用这个进行测定的,平时我们遇到光谱重叠干扰后,一般靠另选谱线来分析,
ID:funnyface
原文由 tzl75 发表:你用的是哪个厂家的机子啊, 你看看软件上有没有IEC功能
ID:ahana0118