原文由 wangboxzzjs 发表:
塞曼扣背景最主要的一个优点是背景的扣除准确地在被分析元素的共振谱线处进行,且只需一个 光源。 但某些元素在磁场中的分裂情况十分复杂,可能分裂出数个π分量和数个σ分量,这种现 象称之为异常塞曼效应。在一定磁场强度下, σ分量也可能未完全分离除去,从而降 低了分析的灵敏度。如 Al, As, Sb, Cu, Se 及Te这些元素。
灵敏度损失的程度通常用磁 场-灵敏度比(MSR)来衡量。MSR值通常在49到100%之间,因元素及波长不同而不同 。
原文由 raoqun20 发表:原文由 shaweinan 发表:
塞曼效应在原子吸收中实际上主要是用来校正背景的,在此之前有氘灯背景校正,此后又有利用谱线自吸收进行校正的方法,大家是否可以比较一下这几种方法的得与失。
三种背景校正的特点是:
1)氘灯连续光源扣背景
灵敏度高,动态线性范围宽,仅适用于波长小于350nm的元素,扣除通带内平均背景而非分析线背景,不能扣除结构化背景与光谱重叠。
2)塞曼效应扣背景
利用光的偏振特性,可在分析线扣除结构化背景与光谱重叠,只用一个光源(空心阴极灯)能在全波段进行背景校正。灵敏度较氘灯扣背景低,线性范围窄,仅使用于原子化,费用高。
3) 自吸收效应扣背景
光路中不需要光束组合器或偏光元件,有利于提高信噪比。使用同一光源,可在分析线扣除结构化背景与光谱重叠。灵敏度低,特别对于那些自吸效应弱或不产生自吸效应的元素,如Ba和稀土元素,灵敏度降低高达90%以上。另外,空心阴极灯消耗大。
三种背景校正方式有各自的优缺点。
原文由 lizhongxi8 发表:
一直对Z-2000系列为什么用双检测器很感兴趣.但这里有2个问题:
(1)双倍增管的优势在哪里?
(2)有无权威的测试对照数据验证其优势? 有人做过这方面的系统研究工作吗? 结论如何?