原文由 zuohaixia_627 发表:
我想请问一个问题,最近我们衍射仪的测角仪半圆附件由于一个光偶虚接触出了一点问题,详细情况是这样的:
刚开始时,当采集完毕一个晶面的极图数据时,半圆附件的chi角没有像以前一样从-70度回复到0度,而是与0度有一定的偏离,大概停在-5度左右,后来演变到70度的时候已经超出-70度,大概在-75~-80之间,phi角正常,样品制备和操作顺序都没有问题,我想请问您,在这种情况下测得的数据对计算极图、反极图、还有ODF图会有什么影响?会不会得不到原有织构的取向信息?是否会得到与样品的本来织构相差很大的织构信息?同一批样品,在设备维修之前做了一些,织构都很差,基本没有深冲板所要求的织构,维修之后做的一些,织构很好,基本没有其他杂信号。
请各位赐教!谢谢!