主题:【求助】关于xps峰值漂移问题

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feixiong5134
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原文由 youyehui 发表:
终于得到了对方的确切回答,这个数据是已经经过校正的xps数据。
我再询问了自己的疑问后,对方老师说c-c也有可能是落在280左右,在275-290之间都可能落到,不知道哪位有经验的大虾做过cn薄膜方面的研究,可有这种情况发生?这样的结果可以说与我所看过的文献都相差太多。由于我是个初学者,还请大家多多指教。


C-C谱怎么可能落在280
那用什么校正?
他既然怎么说
你问他要这篇文献
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Last edit by feixiong5134
youyehui
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可能我说的不太清楚?他说的意思大概应该是c的其他形态落到了这个地方吧,不过对方也确实说过有可能是cc峰哦,呵呵,不知道是不是我表达的不清楚,让老师无从回答吧。他认为我说的在280,282处可能是ch或者是c-si的峰都是有可能的,具体还得看我做实验的条件以及是否有污染的可能的。可是我看过所有的外文中文文献,从未有一篇说会在这里有峰,也从未有一篇做出ch的峰。谢谢各位大侠的指点,尤其感谢版主的指点。
我想问一下,对于xps峰的归属,还可以借住其他什么测量方法才能正确的确定下来?
feixiong5134
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youyehui
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不是c-si呀,我看http://www.lasurface.com/database/liaisonxps.php这个网站上在282.4和282.8处都有c-si峰呀,281处的觉得好像是c-h峰,还是我想的过于简单了。说的不对,还请版主大人赐教啊~~~
feixiong5134
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antill
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不知道你的样品是不是不导电,如果是不导电的话,荷电效应会改变的不仅是峰的位置,还包括特征峰形。做过不导电样品的通知应该知道这一点的!!
该帖子作者被版主 feixiong51342积分, 2经验,加分理由:有同样的感受
youyehui
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谢谢这位大虾的指点!
应该是不导电的。不过我还是没有明白,荷电效应改变了不导电样品的峰位和特征峰形,可是我的数据已经经过了校正,不就已经校正回来了么?还是说即使经过了c1s的校正峰位还是会有差?284前面的两个峰不可能是碳氢或者是碳硅峰的话,那么薄膜中就没有其他的元素了(除了氧)。
请各位高手指点一二,本人实在是对这方面懂的太少,以前就是帮别人分过一次峰,其他的就再也没有接触过了。
feixiong5134
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中和枪的原因的话不是能校正的
这个仪器是什么型号?
用什么靶?
youyehui
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仪器型号: MKII  X射线光电子能谱仪
产地:    英国    VG公司
X光源:  Mg K=1253.6ev,  Al k=1486.6ev
通过能:  50ev  (此值大,分辨率差而信号大  此值小,分辨率好而信号小)
这是他们给的数据,版主看有问题么?
feixiong5134
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从仪器的型号来说
不存在中和枪的校正
我对这台仪器不太熟悉
不好意思。
让人不可思议的是竟然用这么大的通过能
拿数据能好了吗?
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