主题:【讨论】在测试金属材料中关于ICP光谱干扰问题

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wen163
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向各位大佬请教一个问题,小弟在用ICP-OES测试金属材料时遇到这样子一个问题:用ICP测试金属材料时采用了FACT模式进行测试,测试结果Pb负1000多,然后又采用点和模式进行测试,测试结果Pb为1000多。把同样的样品送BV测试,据他们说是用AA测试金属,得出Pb也是1000多。各位大佬,遇到这样子问题怎么样子处理?我们的客人只相信公证行,但我问过ICP供应商,告知ICP在测试金属时候会有很多干扰,建议采用FACT模式进行测试。各位大佬帮我把把关!谢谢!
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windeast
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枪手怪蜀黍
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弱弱的问句,啥是FACT,背景校正?光谱干扰校正?
huxiao121
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FACT好像不好用哦,之前测磁铁里的铅,正常进样有干扰,出来的是ND,用FACT之后,出来有数据,而且还蛮高的。样品也没有用AAS测过,所以不知道磁铁中究竟含不含铅。
再者,也不知道FACT是不是对所有干扰都有用,还是只针对铁对铅的干扰而做的。
风之灵
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原文由 wen163 发表:
向各位大佬请教一个问题,小弟在用ICP-OES测试金属材料时遇到这样子一个问题:用ICP测试金属材料时采用了FACT模式进行测试,测试结果Pb负1000多,然后又采用点和模式进行测试,测试结果Pb为1000多。把同样的样品送BV测试,据他们说是用AA测试金属,得出Pb也是1000多。各位大佬,遇到这样子问题怎么样子处理?我们的客人只相信公证行,但我问过ICP供应商,告知ICP在测试金属时候会有很多干扰,建议采用FACT模式进行测试。各位大佬帮我把把关!谢谢!


金属材料太广泛了,这个不好说。

一般来说复杂基体中的的痕量铅的测定比较容易受干扰。如铁中铅,钴中铅(干扰非常厉害)。如果实在找不到合适谱线,建议根据基体情况作修正,谱图模拟不能完全解决这个问题。
木偶
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AAS塞曼校正结果也不一定就可信。。。
如果只是Pb,建议上XRF判断
maozuqing814
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原文由 wen163 发表:
向各位大佬请教一个问题,小弟在用ICP-OES测试金属材料时遇到这样子一个问题:用ICP测试金属材料时采用了FACT模式进行测试,测试结果Pb负1000多,然后又采用点和模式进行测试,测试结果Pb为1000多。把同样的样品送BV测试,据他们说是用AA测试金属,得出Pb也是1000多。各位大佬,遇到这样子问题怎么样子处理?我们的客人只相信公证行,但我问过ICP供应商,告知ICP在测试金属时候会有很多干扰,建议采用FACT模式进行测试。各位大佬帮我把把关!谢谢!


关键是你要看有没有明显的Pb谱线的峰,再调整积分的位置,和积分的区域,干扰可能会好点.或者再通过模式消除干扰.我做了比AA的数据稍微的偏大一些.
lilongfei14
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测Pb负的说明你的背景校正不正确,还有可能是你的样品含量太低。
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