主题:【讨论】写个探测器的对照表吧

浏览0 回复28 电梯直达
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atlas
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原文由 sartre 发表:
[呃。。。
你说的仪器是PIN探测器的?


然也!
你自己做过?
如果没做过,估计是被热电的人忽悠了
Cu和Ni相邻元素,特征X射线相邻,PIN的分辨率260eV,是无法分辨这两个元素的。

请附用比例记数探测器测得的先镀铜后镀镍样品的谱线图!
xiangyu316
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h87711
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shilei810924
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原文由 h87711(h87711) 发表:
补充下PIN的的探测器确是能做Cu和Ni的。


当然能做了,谱图解析开就可以了。补充一下,没有任何噪声的情况下,对Mn的Kα射线,室温附近硅的法诺因子取0.115,每产生一个电子空穴对所需要的平均能量取3.65eV,因此探测器的极限分辨率在117ev.因此115那是忽悠人的,最好的听说在123ev.
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金水楼台先得月
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原文由 shilei810924(shilei810924) 发表:
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补充下PIN的的探测器确是能做Cu和Ni的。


当然能做了,谱图解析开就可以了。补充一下,没有任何噪声的情况下,对Mn的Kα射线,室温附近硅的法诺因子取0.115,每产生一个电子空穴对所需要的平均能量取3.65eV,因此探测器的极限分辨率在117ev.因此115那是忽悠人的,最好的听说在123ev.

分辨率,能跟WDXRF对比一下吗
shilei810924
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原文由 金水楼台先得月(albert800922) 发表:
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原文由 h87711(h87711) 发表:
补充下PIN的的探测器确是能做Cu和Ni的。


当然能做了,谱图解析开就可以了。补充一下,没有任何噪声的情况下,对Mn的Kα射线,室温附近硅的法诺因子取0.115,每产生一个电子空穴对所需要的平均能量取3.65eV,因此探测器的极限分辨率在117ev.因此115那是忽悠人的,最好的听说在123ev.

分辨率,能跟WDXRF对比一下吗


                    WDXRF            Si-Pin            SDD            STJ              微热量计

                    10-20ev            150ev          123ev      10-15ev              3-5ev
等STJ和微热量计(超强啊,但现在由于技术限制,CPS到不了1K,期盼吧)的技术成熟后,能量色散能在好多方面取代波长色散。
wusongxing
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原文由 sartre(sartre) 发表:
同样是Si(Li)晶体的探测器仪器,如何选择?
主要是看晶体的面积,晶体面积越大,探测效率越高,灵敏度越高,性能越好,价格越贵。目前国际市场的上晶体面积从5mm2 8mm2,10mm2.,15mm2 30mm2……都有
一般认为15mm2以上的晶体为高灵敏度晶体。
同时需要注意分辨率指标,一般来说晶体面积越小,分辨率越好。晶体面积越大,分辨率数会越大。当分辨率满足170eV内时,应选择较大的晶体,已获得较好的灵敏度和分析效率。当然晶体面积与价格成正比。

SDD 晶体与Si(Li) 晶体在技术上有何不同?
SDD晶体技术是一种新的技术,出现在市场上约6-7年时间。
国内市场常见到的有晶体面积 5mm2 8mm2,10mm2
由于该晶体的厚度仅有0.3mm., 因此对高能端的元素探测器效率较低。而对低能端的元素具有较好的探测器效率。因此,该种晶体的探测器适用于11-29号Ka线范围和其它La线元素的分析。目前这种技术仍在完善中。一般常用于扫描电镜能谱仪上使用。在荧光能谱仪上不适合多元素同时分析的工作
Si(Li) 晶体具有较长时间的生产历史,(20世纪60年开始面试)具有稳定的性能,分析元素范围可达 4号Be -- 92号 U  晶体厚度达3mm以上。可满足高能端元素的分析要求。适合多元素同时分析要求
                Si(Li)晶体              丨      SDD 晶体
晶体面积    10mm2,15mm2,30mm2 50mm2  丨    5mm2    8mm2,10mm2,30mm2
晶体厚度                >3mm              丨        0.3mm
Mn Ka 分辨率        129-155eV              丨    149eV --165eV
Ka 分析元素范围        < 40 KeV        丨        < 10KeV
历史                  1968              丨            2002

SDD 与Si Pin 探测器有何区别?
SiPin 探测器通常用于低端荧光能谱仪或者便携式荧光能谱一种。由于其价格低廉,因此仪器造价较低。 适合单元素或少元素的分析
            SiPin晶体                  丨        SDD 晶体
晶体面积          5mm2 8mm2 10mm2,        丨      5mm2 8mm2,10mm,30mm2
晶体厚度              >0.3mm                丨        0.3mm
Mn Ka 分辨率        260eV                      149eV --165eV
Ka 分析元素范围        < 10 KeV                  丨        < 10KeV
历史                  2001              丨        2002
国际市场价格        2000USD-4000USD    丨        12000USD-20000USD
由于该探测器分辨率较差,因此不能分析相邻的元素,如Ni,Cu, Zn 不能同时分析
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原文由 wusongxing(wusongxing) 发表:
原文由 sartre(sartre) 发表:
同样是Si(Li)晶体的探测器仪器,如何选择?
主要是看晶体的面积,晶体面积越大,探测效率越高,灵敏度越高,性能越好,价格越贵。目前国际市场的上晶体面积从5mm2 8mm2,10mm2.,15mm2 30mm2……都有
一般认为15mm2以上的晶体为高灵敏度晶体。
同时需要注意分辨率指标,一般来说晶体面积越小,分辨率越好。晶体面积越大,分辨率数会越大。当分辨率满足170eV内时,应选择较大的晶体,已获得较好的灵敏度和分析效率。当然晶体面积与价格成正比。

SDD 晶体与Si(Li) 晶体在技术上有何不同?
SDD晶体技术是一种新的技术,出现在市场上约6-7年时间。
国内市场常见到的有晶体面积 5mm2 8mm2,10mm2
由于该晶体的厚度仅有0.3mm., 因此对高能端的元素探测器效率较低。而对低能端的元素具有较好的探测器效率。因此,该种晶体的探测器适用于11-29号Ka线范围和其它La线元素的分析。目前这种技术仍在完善中。一般常用于扫描电镜能谱仪上使用。在荧光能谱仪上不适合多元素同时分析的工作
Si(Li) 晶体具有较长时间的生产历史,(20世纪60年开始面试)具有稳定的性能,分析元素范围可达 4号Be -- 92号 U  晶体厚度达3mm以上。可满足高能端元素的分析要求。适合多元素同时分析要求
                Si(Li)晶体              丨      SDD 晶体
晶体面积    10mm2,15mm2,30mm2 50mm2  丨    5mm2    8mm2,10mm2,30mm2
晶体厚度                >3mm              丨        0.3mm
Mn Ka 分辨率        129-155eV              丨    149eV --165eV
Ka 分析元素范围        < 40 KeV        丨        < 10KeV
历史                  1968              丨            2002

SDD 与Si Pin 探测器有何区别?
SiPin 探测器通常用于低端荧光能谱仪或者便携式荧光能谱一种。由于其价格低廉,因此仪器造价较低。 适合单元素或少元素的分析
            SiPin晶体                  丨        SDD 晶体
晶体面积          5mm2 8mm2 10mm2,        丨      5mm2 8mm2,10mm,30mm2
晶体厚度              >0.3mm                丨        0.3mm
Mn Ka 分辨率        260eV                      149eV --165eV
Ka 分析元素范围        < 10 KeV                  丨        < 10KeV
历史                  2001              丨        2002
国际市场价格        2000USD-4000USD    丨        12000USD-20000USD
由于该探测器分辨率较差,因此不能分析相邻的元素,如Ni,Cu, Zn 不能同时分析

最新的探测器有些改善吗。
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