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主题：【讨论】纯钨中微量Si,Mg,Ti含量分析.

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谈谈
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发表于：2009/02/25 17:30:42 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
如题,用ICP-OES在分析,Si,Mg,Ti的含量很低,10到50PPM,因为W对上述几个元素的干扰很多,找了好多条线,结果不是很理想.据有关文摘介绍,说是用离子交换法把W元素分离后再测试.具体的操作方法,用的是什么树脂?方法精密度如何,回收率多少等,具体的细节不是很清楚,大家有没有做过这方面的实验,一起来讨论讨论吧.
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lilongfei14
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2009/2/25 18:43:19 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
改用标准加入法，应该是可以的
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chemistryren
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2009/2/26 10:26:42 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
如果是PE的产品可以试一下MSF扣除背景/
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飘尘
wht0518
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2009/2/26 15:38:01 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 chemistryren 发表:
如果是PE的产品可以试一下MSF扣除背景/

请问能不能说一下MSF扣除背景的这种方法具体细节应该怎么做！详细一点最好有资料传上来点
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谈谈
tyg1108
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2009/2/27 9:23:38 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
如果是大批量的检测，1000个样品的话，做标准加入法是不是操作太麻烦啊，要不要一个样品做一系列标准啊。
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hunk
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2009/2/27 17:03:28 地板 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 wht0518 发表:
原文由 chemistryren 发表:
如果是PE的产品可以试一下MSF扣除背景/

请问能不能说一下MSF扣除背景的这种方法具体细节应该怎么做！详细一点最好有资料传上来点


没有用的---最多也就是能缓和一下，不能作为准确值--用原子吸收试试吧--前处理用离子交换估计也够呛--纯钨啊--结果重现线可能不大好
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Last edit by hunk
谈谈
tyg1108
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2009/3/2 9:56:47 6楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
瓦里安的工程师告诉我说，如果ICP存在光谱干扰，那么同样的道理，原子吸收也会有，只不过是因为原子吸收无法直观的体现出来，所以那种结果也只是自我安慰罢了，也不知道怎样才好。
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