主题:【求助】薄膜样品制备

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baobeishan
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各位专家:我的测量物品是薄膜,大约50微米厚,请问可不可以直接用广角X射线衍射测量,若不能,需要怎样制作样品?
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大陆
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使用普通的反射型粉末XRD仪,无需特殊制样即可测量。
如果你的薄膜--哦,50um厚,不能叫薄膜了,更正一下:厚膜--存在强烈的织构,需要注意将样品放正。
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