主题：X-衍射仪如何定量分析？

原文由 hanyapeng 发表:
我所用的是热电的ARL9800XP型X-荧光衍射仪，不知道有没有人拿这台用衍射法分析过电解质的分子比啊，结果怎么样啊，能不能给我说说是怎么弄的　啊！！

哎，你的资料我下载花了我三个小时啊，
不过值！！！！！！

我干荧光已经三年了，主要是用来测定电解质的分子比的，可是最近我听说分子比用衍射做比荧光做要准确，稳定，不知道是不是真的！！

可以定量，准确度要看具体情况。一般有标样的准确度高，如果是在无标定量，全谱拟和的方法最好的。

原文由 flashpoint 发表:
1，有标定量
2，无标定量
3，全谱拟合

有书可看，查查
X射线定量分析，
好像作者是苗春省，

我找了一下,书名为<<X射线定量相分析方法及应用>>,88年6月第一版

理论上任何相都是可以定量分析的,但具体实施起来就比较麻烦,传统的方法就是K值法,通过计算、查PDF卡片或者测量的方法得到样品中各物相的K值，K值就是定量分析计算公式中的一个系数，与物相有关，与测量的峰有关。使用K值法一般使用粉末样品，因为要往样品中加入参与物相进去。这种方法很麻烦，如果不是生产单位，需要天天做同样的样品的物相（物相相同，含量不同），一般实验室是不会做的，如果答应做也会收你的天价。
如果样品中所有物相的晶体结构完全已知（包括原子坐标等），则可以使用免费的全谱拟合软件来做。也不是一件容易的事情。
目前来说，解决的办法有这么几种：
一种是有个日本软件，带有庞大的晶体结构数据库，利用全谱拟合的方法来计算，比较准确。便软件价格非常贵（我也没有）。国内有几个实验室能做这方面的工作。
第二种是JADE，High scole（是这么写的吧？）以及其它的软件中有简单的所谓快速定量方法，但是，要求每个物相的PDF卡片上都有K值（即I/ICO），这种方法算出来不是很准确。
那么如果以上两种都不行的话，你就可以手算了。如果不考虑K值，即把所有物相的K值看作是1，那么用积分强度比一下也算是个数据。也能说明问题。但是误差就不好说了，有时会相差30%，如果考虑K值的话，就要PDF卡片上找到K值，然后，计算出每个相的最强峰的面积（积分强度），按“绝热法”来计算。公式很多书上都有，不用多说，找一下XRD的书就能看到，最好是看李树棠教师的书，写得很详细。现在有些新书都是一笔带过了。
还有一种方法，就是无标对比法。如果你有两个差不多的样品，样品中都有两个相A和B，那么你就可以用这种方法了，直接比强度也能比出来，但是，经验告诉我，误差有时候有点说不出口的大，感觉做出来的结果有点对人不住 。
实际上，XRD的定量都是有很大误差的，误差的来源多种多样。误差控制在10%以内不是容易的事情。所以，还不如什么因素都不考虑，直接比对强度。比对强度不是不同样品的同物相强度比，而是要在一个样品内不同物相强度之比。如有A，B两相，A相含量可表示为=A/（A+B）。虽然数据的绝对值没什么意义，但同一系列样品的变化规律还是出来了。

我也很想知道，如有消息不要忘了通知我

好像不能定性分析