主题：【求助】诚请大家来再次讨论检出限！！再加50分

原文由 yzyxq 发表:
单个空白连续测值，然后求SD，3倍SD除斜率，得到的检出限是仪器检出限。这个值用于考评仪器的。
方法检出限，是用按方法操作的多个(>6)试剂空白进行测量，然后求SD，3倍SD除斜率，这样得到的检出限是方法检测限。
得到结果无论正负值都没关系，计算出SD总是正的。

原文由 yzyxq 发表:
单个空白连续测值，然后求SD，3倍SD除斜率，得到的检出限是仪器检出限。这个值用于考评仪器的。
方法检出限，是用按方法操作的多个(>6)试剂空白进行测量，然后求SD，3倍SD除斜率，这样得到的检出限是方法检测限。
得到结果无论正负值都没关系，计算出SD总是正的。

原文由 kidmy 发表:

原文由 yzyxq 发表:
单个空白连续测值，然后求SD，3倍SD除斜率，得到的检出限是仪器检出限。这个值用于考评仪器的。
方法检出限，是用按方法操作的多个(>6)试剂空白进行测量，然后求SD，3倍SD除斜率，这样得到的检出限是方法检测限。
得到结果无论正负值都没关系，计算出SD总是正的。

学习了 以后我们要是做的话也就知道了 谢谢啊

原文由 叶绿花红 发表:

斜率是什么东西，怎么来的？
质疑中
理论和实际差多远？

原文由 yzyxq 发表:
单个空白连续测值，然后求SD，3倍SD除斜率，得到的检出限是仪器检出限。这个值用于考评仪器的。
方法检出限，是用按方法操作的多个(>6)试剂空白进行测量，然后求SD，3倍SD除斜率，这样得到的检出限是方法检测限。
得到结果无论正负值都没关系，计算出SD总是正的。

原文由 songshiqiu 发表:

原文由 yzyxq 发表:
单个空白连续测值，然后求SD，3倍SD除斜率，得到的检出限是仪器检出限。这个值用于考评仪器的。
方法检出限，是用按方法操作的多个(>6)试剂空白进行测量，然后求SD，3倍SD除斜率，这样得到的检出限是方法检测限。
得到结果无论正负值都没关系，计算出SD总是正的。

这个我比较赞成，仪器检出限用同一空白水就行。
方法检出限要平行制备7个样品空白，测7次。

原文由 chemistryren 发表:
配7个空白有可能检验的是操作人员的操作水平,而不仅仅考量仪器了,只配一个空白测定7次那就是检验仪器的精密度.

原文由 yzyxq 发表:


斜率就是标准曲线的斜率，就是y=a+bx中的b。

原文由 叶绿花红 发表:

原文由 yzyxq 发表:


斜率就是标准曲线的斜率，就是y=a+bx中的b。

不同的线性范围斜率有可能不同
不同的测试时间斜率有可能不同
.......
取什么条件下的斜率为好?
是不是同一台仪器不同的条件下测得DL会不一样？
[/quot]

实际当中，每次测11次空白，得出的SD应该都不一样，即检出限都不一样，同理，方法检出限也不一样。
那么是否每次实验当天作出的SD才代表当天的仪器试剂指标，才能代表当时的检出限？
仪器使用一段时间后，性能有变化，SD发生较大改变，检出限也将变化，有没有方法将多次的检出限做方法学上的处理，得出合理的方法检出限？