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主题：【求助】如何使用C-AFM

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ever0202

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发表于：2009/08/03 10:46:31 楼主管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

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本人现在只会使用tapping mode 仪器为DI Nanoscope IV型。想用C-AFM测单个颗粒的电阻（颗粒为微米级），不知应该如何使用C-AFM，请高手指点，详细操作步骤，参数如何设置，需要使用那种针尖等，万分感谢！

推荐答案：hitttr回复于2009/08/04

补充答案：

ative回复于2009/08/03

hitttr回答得很好，补充一点是一定要注意保护针尖，因为非常容易把针尖的导电镀层摩掉，所以setpoint可以设置小一点。Scan range 开始时也很小，逐渐增加，直到看到了你要测量的颗粒，在zoom in，测量

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2009/8/3 16:17:05 沙发管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

会使用Tapping Model，那使用C-AFM也基本上不成问题了。
首先，C-afm是导电原子力显微镜，
是在接触模式下测量的，即在测量形貌的同时获取样品的导电性的信息。
1.使用接触模式的针尖，并且表面有导电镀层的，如Pt，Au等。建议用镀Pt的。
2.调节激光，调节方法同Tapping Mode，只是将Deflection信号调节到0以下，例如-2，具体数值不是太紧要。

3.将Setpoint设置到0左右，然后下针，扫描。
4.选取两个channel成像，Channel 1 形貌，Channel 2 电流。

操作步骤基本上就是这样，其中可能有不是很确切的地方，请自行琢磨一下。

原文由 ever0202 发表:
本人现在只会使用tapping mode 仪器为DI Nanoscope IV型。想用C-AFM测单个颗粒的电阻（颗粒为微米级），不知应该如何使用C-AFM，请高手指点，详细操作步骤，参数如何设置，需要使用那种针尖等，万分感谢！

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2009/8/3 16:26:17 板凳管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

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2009/8/4 10:06:22 马扎管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

非常感谢两位的回答！由于我还不会接触模式，并且我在做tapping mode时，setpoint一般是用下针好时仪器自动赋的值（大概1.3左右),图像不好时，稍微调小些。I gain设为0.2，P gain设为0.3
所以想请问做C-AFM时，setpoint，I gain，P gain具体应该为多少？样品不是很平整，起伏可能有几百个纳米。开始的扫描面积1微米,扫描速度为1HZ可以吗？

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2009/8/4 13:22:46 地毯管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

Setpoint，gain值与样品都有关系，你可以像调节Tapping模式一样试着调节。
与Tapping模式不同的是，Setpoint越大作用力也越大，所以Setpoint的调节方向与Tapping模式基本上是相反的。Gain值的调节方法与Tapping模式一样。
关于扫描速度，和Tapping模式差不多。
一般情况下，接触模式可以稍微比接触模式快一点。

原文由 ever0202 发表:
非常感谢两位的回答！由于我还不会接触模式，并且我在做tapping mode时，setpoint一般是用下针好时仪器自动赋的值（大概1.3左右),图像不好时，稍微调小些。I gain设为0.2，P gain设为0.3
所以想请问做C-AFM时，setpoint，I gain，P gain具体应该为多少？样品不是很平整，起伏可能有几百个纳米。开始的扫描面积1微米,扫描速度为1HZ可以吗？

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