原文由 drizzlemiao 发表:
我觉得宏观和微观没有谁好谁劣的问题,就看需要哪方面的数据了。
有比较才有鉴别,对具体差别的讨论有助于我们和后人明白:哪一种技术对于什么样的问题最有说服力。楼主引入的问题是晶格参数的精确测定,我的观点是ED不比XRD。
CBED的精密性,即它的σ值很小这已经是共识。对于蓝莓版主可能没有理解到的细节差异,这里我对9楼的图片补充说明下,CBED相对XRD-SR存在的不足是:
当你用CBED测定一个微区晶格参数时,凭什么来判断这个区域strain存在与否?凭什么判断strain的正负??我认为单有CBED的测量结果不能判断测量微区strain的存在与否和正负,也正是因为strain的存在导致CBED的微区晶格常数不能作为标准参考,除非你对大量strain正负均匀分布的微区进行统计测量,而在电镜下对微区的千千万万的次选取和测量显然不practical,而这恰好是XRD-SR弥补它的地方。是不是这样?