主题：【讨论】PW2403 mA timeout的原因解决方法

1.3.1 真空泵
将真空泵与光谱室和样品室的接口拆下并用橡皮塞堵住，然后抽真空，如果能在几秒钟内抽到规定值，可以排除真空泵出现故障的可能性。如果能抽到规定值但所需时间较长，则可能是真空泵的效率降低。造成真空泵效率降低的原因：一是经常分析压片和油品的试样，粉末或油被吸到真空泵油中，改变了油的粘度，这时需更换真空泵油和分子筛；二是真空泵油不够，这时需要检查真空泵是否漏油并添加真空泵油；三是真空泵里有水，这时要将气镇阀打开排除泵中水份。
1.3.2 试样室
每次试样进行分析检测时，试样室盖子合上，试样先在试样室进行真空预抽，后被试样升降机构移送到分光室测量。一方面由于毛边铁屑和粉末试样进入试样后会造成密封元件的磨损；另一方面由于高频度的上下反复运动升降机构活塞杆和刮油涨圈、方形密封圈、方形保护垫圈等部件容易严重磨损；第三由于样品测量时通常以一定的速度自转，样品自转处的密封圈磨损，密封效果变差。因此试样室最常见的漏气部位是试样室盖子和试样升降机构活塞、样品自转装置上的密封圈。
1.3.3 分光室

分光室最常见的漏气部位是流气计数器，流气计数器安装在分光室内，有一根入气管和一根出气管与外界相通，流气计数器的窗膜很薄，窗膜漏气，就会影响分光室真空。常见在更换流气后分光室真空不好，这可能是因没按规程操作造成流气计数器的窗膜漏气。检查漏气部位是否在流气计数器的方法是：将入气管和出气管用一根软管连接，使流气计数器与外界隔绝，然后抽真空。
检查真空故障需要注意的事，在拆卸和安装时，要小心操作，不要让灰或头发掉到密封圈上，以避免产生新的漏气点，安装时可以在密封部位涂一点真空油脂。更换升降机构活塞杆的刮油涨圈、方形密封圈、方形保护垫圈后要用用户工具软件检查活塞升降升降试验，避免其他故障的发生。
1.4  高压发生器
判断是否因高压发生器发生故障引起高压不能启动，可将高压发生器打开，检查各个开关是否在正常位置，看保险丝有没有熔断。高压发生器一般不会出问题，以防万一可用排除法，即把高压发生器和X射线光管之间电缆断开，用程序软件启动高压，如果仪器面板显示高压启动成功，则排除高压发生器有故障。

1.5  X射线光管
X射线光管是仪器内最贵重的部件，X射线光管是个封闭的部件，一旦损坏，只能更换，无法修复。检查X射线光管是否损坏，也可用排除法，第一步先排除X射线防护系统；第二步排除循环冷却系统；第三步排除真空系统；第四步排除高压发生器发生故障，第五步检查X射线光管与高压电缆的连接是否正常，高压电缆有无损坏。如果五项检查全正常，则可判断X射线光管损坏。X射线光管在损坏之前会出现X光管经常出现闪烁（打火），并且在分析监控试样时轻元素的强度会明显降低。
2  计数率不稳定的原因及处理方法
X射线荧光光谱仪的常用探测器有二个：流气计数器和闪烁计数器。一般闪烁计数器很稳定，问题常出现在流气计数器上。由流气计数器导致计数率不稳定主要有以下二方面：
2.1流气计数器的窗膜导电性能下降
流气正比计数器窗膜的导电性，窗口材料通常用聚丙烯膜或二苯酸酯聚乙烯膜，其厚度为1μm到6μm。膜的内层镀上一层很薄（约30nm）的铝膜，由于窗膜承受大气压力，一段时间后随着基体材料的延展，铝膜可能产生裂纹，从而减弱导电性能，这种情况对脉冲高度分布影响不大，但会使计数率不稳定。新型号的X射线荧光光谱仪一般都安装1μm甚至0.6μm的窗膜，而不再使用6μm的窗膜，因此流气计数器的窗膜导电性能下降的可能性增大。

1.3.1 真空泵
将真空泵与光谱室和样品室的接口拆下并用橡皮塞堵住，然后抽真空，如果能在几秒钟内抽到规定值，可以排除真空泵出现故障的可能性。如果能抽到规定值但所需时间较长，则可能是真空泵的效率降低。造成真空泵效率降低的原因：一是经常分析压片和油品的试样，粉末或油被吸到真空泵油中，改变了油的粘度，这时需更换真空泵油和分子筛；二是真空泵油不够，这时需要检查真空泵是否漏油并添加真空泵油；三是真空泵里有水，这时要将气镇阀打开排除泵中水份。

2.2流气的成份和纯度 
流气的成份和纯度对测量结果的有较大影响，如果流气中混入空气、水蒸气等容易形成负离子的气体，在雪崩放电中，因负离子运动缓慢与电子引起的雪崩性质不同改变了气体放大倍数，使输出电脉冲幅度降低，使计数率不稳定。如果流气计数器窗膜漏气，进入流气计数器的流气中容易混入空气、水蒸气，使计数率不稳定。一般X荧光仪采用P10气体做流气，为确保流气的成份和纯度第一要定期检查P10气瓶和气瓶上的连接器等是否漏气；第二P10气瓶要及时更换保留一定余压，漏气检查方法和P10气瓶更换办法可参照文献[2]介绍方法执行。发现流气计数器窗膜漏气时要及时更换。帕纳科顺序式计数器窗膜更换办法如下：第一关掉X光管高压、第二在SuperQ 状态图中设定测角仪2角度为90°；第三将仪器介质设定为Air；第四打开仪器前面板，去掉晶体室盖板的三个固定螺丝；第五记住晶体目前的位置（最上面的位置为工作时显示的位置），转动晶体盘，尽量使空置的位置在上面，这样可以保护晶体；第六将流气探测器管路的固定扎带铰断，松开流气管路的固定螺丝，将流气管取下（注意流气管连接块上的两个密封圈。用M8的外六角套筒取下流气探测器的一个固定长杆螺丝，用T25工具松开另一个固定螺丝，这个螺丝用一胶圈固定在探测器上，不用取出。第七将流气探测器小心的取出，千万不要碰着准直仪薄片。将准直器取下，更换探测器窗口膜。注意：窗口膜的有铜边的一面向外，全银色的一面向阳极丝。窗口膜下面的密封圈一定要压好。第九、小心的放回准直仪，要一次性放好，千万不要滑动，否则窗口膜会破。第十、松开探测器后部盖子的三个固定螺丝，用镊子拔掉探测器的高压插头。用M2.5的内六角松开固定阳极丝室的两个固定螺丝，可将整个阳极丝室拿出，去掉旧的阳极丝，将新阳极丝用酒精清理干净，用小的锥形销将阳极丝固定在支架上。注意：阳极丝中间不能有折痕，阳极丝一定要拉直。轻轻的摇动两边多余的阳极丝，使其在跟部断开。十一、按顺序重新安装回流气探测器。

3  2θ扫描时，发现峰形不光滑，有小锯齿状
晶体是仪器内最脆弱的部件，尽量不要用手接触衍射面，如果手或其他东西碰到了晶体的衍射面，就会污染晶体，手上的汗或其他物质渗到晶体的表面，使晶体表面的晶格间距发生变化，而X射线荧光的衍射主要发生在晶体的表面，因此造成2θ扫描的峰形不光滑。这种故障一时很难消除，文献[3]介绍了的表面处理方法，但一般清洗不干净。清洗不干净必须请厂家更换晶体。为避免因晶体导致峰形不光滑，有小锯齿状除不能用手或其他东西碰到了晶体的衍射面外，还必须注意避免灰尘进入光室。

4 分光测量单元中滤光片、准直器、准直器面罩、晶体、狭缝动作超时
根据试样分析的特点每次测定特定元素时会动用不同的滤光片、准直器、准直器面罩、晶体、狭缝等，主机对这些部件完成动作时间进行实时监测，如果时间超差仪器提示报警并停止分析。这些部件的运动通过电机经过减速齿轮或凹凸轮组件等实现不同的机械运动，这些部件完成动作超时的原因主要有以下两方面：一方面是零件摩擦表面不够润滑，另一方面是机械部件的定位位置之间发生相对的位移或松动，引起零件摩擦表面压强和摩擦功过大。因此一方面要定期对零件摩擦表面加注润滑油脂，另一方面要定期调整零件机械的定位位置。发生分光测量单元部件动作超时还可以用吸耳球吸取纯的乙醇溶液对减速齿轮或凹凸轮的间隙进行清洁。

5  软件运行速度缓慢
软件运行速度缓慢主要表现为：读程序的速度缓慢、分析完出结果缓慢、查阅分析完出结果缓慢。其主要原因是日常大量的分析数据没有及时清除移走造成，处理的方法是定期对数据备份和对过期的数据进行清除。

这么详细，可以参加原创大赛了。

高手就是高手，写得非常详细。
学到了很多知识，谢谢！

感谢作者，辛苦了！