主题:请教高手SEM样品制备和观测

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threedaysin
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碰到个样品,是断面,但是要求要看断面里长着的粒子,大概100nm左右的
事先是用液氮淬冷掰断出来的断面
势必表面不那么平整
但对于平常看普通断面的话,应该没问题
但又要求药看里面的粒子,并且要拍到8万倍
实在太痛苦了,放大那么大倍数,明显高低不平,圆的粒子都被拉长了。

有什么好方法吗?对于前期制备和后期观察
求教高手们
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shxie
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具体能再讲清楚点吗?如果粒子放到8万才能看清楚,那么是10nm左右的颗粒了吧,如果这样无需担心粒子的变形了。断口放到8万也就无所谓原来的形状了,直接用液氮下掰即可。
如果不是这样,请详细说明材料性状吧
sysmith
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原文由 threedaysin 发表:
碰到个样品,是断面,但是要求要看断面里长着的粒子,大概100nm左右的
事先是用液氮淬冷掰断出来的断面
势必表面不那么平整
但对于平常看普通断面的话,应该没问题
但又要求药看里面的粒子,并且要拍到8万倍
实在太痛苦了,放大那么大倍数,明显高低不平,圆的粒子都被拉长了。

有什么好方法吗?对于前期制备和后期观察
求教高手们

1.液氮淬冷制起断面是通常的做法。
2.只要调节好电镜参数应该没有多大问题。我曾经看过在电蚀刻沟槽内的颗粒(100nm左右),效果还不错。
3.园的粒子被拉长?像散调节好了吗?
4.另外注意样品的导电性。
shxie
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原文由 sysmith 发表:
3.园的粒子被拉长?像散调节好了吗?
4.另外注意样品的导电性。

同意你这两点,粒子被拉长很可能是导电性不佳和像散的原因。您的仪器是什么灯丝的?W灯丝的新电镜倒是可以拍8万,但是需要喷金吧。
threedaysin
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不方便透露具体东西吧
是介孔粒子,在PS里长成的,需要看到粒子的孔里面伸出东西来

像散和聚焦已经没什么可调的了,放大了本来就不会很清楚,而且会漂移(漂移的问题是什么原因呢?)
我总认为是断面不平的缘故
因为我同样看100nm左右的粉末状粒子,从来不会漂移的。

threedaysin
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喷金喷过了
灯丝是钨灯丝310面
冷场发射扫描电镜

跟样品制备也有关吧,断面下来,面向上的粒子很少,都是在侧面的断层里
shxie
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原文由 threedaysin 发表:
不方便透露具体东西吧
是介孔粒子,在PS里长成的,需要看到粒子的孔里面伸出东西来

像散和聚焦已经没什么可调的了,放大了本来就不会很清楚,而且会漂移(漂移的问题是什么原因呢?)
我总认为是断面不平的缘故
因为我同样看100nm左右的粉末状粒子,从来不会漂移的。


如果漂移可能是样品固定不牢,你说喷了金,那么喷金之后表面是不是用导电胶和样品坐相连了?
threedaysin
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连了,但是估计没有连得很好吧,我是把样品固定在样品台上后,再去喷金
shxie
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原文由 threedaysin 发表:
连了,但是估计没有连得很好吧,我是把样品固定在样品台上后,再去喷金

那我估计就是样品不牢的原因了。
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