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ID:threedaysin
行业:其他
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ID:shxie
ID:sysmith
原文由 threedaysin 发表:碰到个样品,是断面,但是要求要看断面里长着的粒子,大概100nm左右的事先是用液氮淬冷掰断出来的断面势必表面不那么平整但对于平常看普通断面的话,应该没问题但又要求药看里面的粒子,并且要拍到8万倍实在太痛苦了,放大那么大倍数,明显高低不平,圆的粒子都被拉长了。有什么好方法吗?对于前期制备和后期观察求教高手们
原文由 sysmith 发表:3.园的粒子被拉长?像散调节好了吗?4.另外注意样品的导电性。
原文由 threedaysin 发表:不方便透露具体东西吧是介孔粒子,在PS里长成的,需要看到粒子的孔里面伸出东西来像散和聚焦已经没什么可调的了,放大了本来就不会很清楚,而且会漂移(漂移的问题是什么原因呢?)我总认为是断面不平的缘故因为我同样看100nm左右的粉末状粒子,从来不会漂移的。
原文由 threedaysin 发表:连了,但是估计没有连得很好吧,我是把样品固定在样品台上后,再去喷金