chemchenxj回复于2009/12/01
楼上两位说的不错,我再补充一下
荧光测的是元素的特征谱线,但如果你在制作曲线时标样值是氧化物形式,例如矿物中的SiO2,虽然测的是Si-KA,结果也可以用氧化物形式表示的。一般样品中以什么形式存在,就用什么形式表示,粉末样品一般以氧化物的形式表示,金属及合金用元素形式表示
因为分辨率不够,一般的荧光是无法做价态分析的,不过听说那种有两个衍射晶体的高分辨率荧光可以进行价态分析,当然,像ARL 9800 XP这种扫描道-固定道(XRF)和衍射道(XRD)的整机一体化仪器也是可以进行价态分析的,但实际上它的衍射道(XRD)不能称之为XRF了
原文由 chemchenxj(chemchenxj) 发表:
楼上两位说的不错,我再补充一下
荧光测的是元素的特征谱线,但如果你在制作曲线时标样值是氧化物形式,例如矿物中的SiO2,虽然测的是Si-KA,结果也可以用氧化物形式表示的。一般样品中以什么形式存在,就用什么形式表示,粉末样品一般以氧化物的形式表示,金属及合金用元素形式表示
因为分辨率不够,一般的荧光是无法做价态分析的,不过听说那种有两个衍射晶体的高分辨率荧光可以进行价态分析,当然,像ARL 9800 XP这种扫描道-固定道(XRF)和衍射道(XRD)的整机一体化仪器也是可以进行价态分析的,但实际上它的衍射道(XRD)不能称之为XRF了