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X射线荧光光谱仪（XRF）

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主题：【讨论】XRF中的品质因子K和均方根值的理论和计算公式

浏览0 回复8 电梯直达

云☆飘☆逸

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发表于：2010/05/06 19:21:30 楼主管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

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最近看了一些文章，对其中XRF法中的品质因子K和均方根值的理论和计算公式都没有找到相关的文献。不知道它们指的是什么，刚才百度了一下，也没有查到，它们和我们常说的相关系数r和标准偏差SD存在某种对应的关系吗？希望专家给予这方面的帮助，谢谢。

推荐答案：hsteel回复于2010/05/07

光谱估计方法FAT的强度修正及品质因子

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2010/5/6 22:56:55 沙发管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

这个还真不懂，帮你顶贴

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Onway

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2010/5/6 23:03:57 板凳管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 云飘西风落(denx5201314) 发表:
最近看了一些文章，对其中XRF法中的品质因子K和均方根值的理论和计算公式都没有找到相关的文献。不知道它们指的是什么，刚才百度了一下，也没有查到，它们和我们常说的相关系数r和标准偏差SD存在某种对应的关系吗？希望专家给予这方面的帮助，谢谢。

是哪些文章呢？
我翻了两本书也没找到品质因子的相关公式。

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tyrantgqy

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2010/5/7 9:35:06 马扎管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

相关系数=〉对应于回归分析也即建立回归数学模型后，检验其效率（再离散的点也能找到回归方程，但是那种方程明显是没有效率的，我们依靠相关系数r₀检验,来判断拟合程度的好坏）
标准偏差=〉对应一系列测量数据，通常需要求SD的都是一个样品连续测量n次,得到的数据，求其标准偏差，目的是显示着一组数据间的离散程度，大，说明方法不稳定，存在系统误差，小说明方法稳定，仅存在偶然误差。

本人才疏学浅，以我对统计检验的认识，未能发现r0和SD的关系，一个对应的是n个标样建立数学模型的好坏程度一个对应的是一个样的n次测量结果的稳定程度。

P.S. 品质因子是啥？求大人解释囧rz

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