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主题：【分享】光电子能谱仪简介

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xgq_2001

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发表于：2010/06/09 11:47:15 楼主管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

XPS

X 射线光电子能谱学 (XPS) 通过使用 X 射线光束照射固体样品的表面并收集从样本表面放射的光电子光谱，来提供表面化学状态信息。通常，XPS 测量的分析深度小于 10 nm，同时取决于逸出光电子的动能。光电子光谱包含可用于识别被检测元素化学状态的结合能信息。VersaProbe 配备了通过 XPS 进行表面成分分析、薄膜分析和成像的工具。可选附件可使用价带光谱，扫描俄歇电子光谱，并在真空条件下处理样品或样品表面改性。

最近，在调研xps从供应商那里得到了一些资料，现在拿出来与大家分享，不确定哪家公司的仪器更好？大家都来看看！我们老大认为ULVAC-PHI，没有这家公司的客户，来说这家仪器如何？

附件：

Versaprobe Rev.pdf

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2010/6/9 11:53:50 沙发管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

这个确实是简介，太简单了

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wenxiang1998

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2010/6/9 18:52:04 板凳管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

这是新人赚取积分和经验值的方法，呵呵。

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xgq_2001

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2010/6/13 10:57:14 马扎管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

2. Ｘ射线光电子能谱 – 配合碳６０在有机薄膜甚至”厚”膜上的应用
在学术研究上，XPS配上碳６０已经被证明在有机材料清洁与深度分析是非常有效的，同时样品化学成份的结构也不会像使用传统的氩离子的时候而造成破坏。但由於碳６０有着长时间使用时有碳回归到样品的现象，所以其应用在比较厚的结构上就显得不甚合适。在Ulvac-Phi的PHI 5000 Versaprobe仪器上，已可证明在特殊条件之下适当的使用碳６０离子枪，尽管厚度在几百奈米的有机样品，都可以以深度分析的方式把样品一层一层的结构清楚的分析出来（参考资料来自於　台湾中央研究院应用科学中心－薛景中老师）。

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