原文由 xgq_2001(xgq_2001) 发表:
我们知道质谱分析最重要的部分就是解析图谱,如何解析二次离子质谱呢?好像很困难,因为目前关于二次离子质谱的数据并不多。本人综合总结了培训过程中所学一点经验给大家分享;
1。二次离子质谱分为两种,一种动态二次离子质谱(DSIMS),如CAMECA公司生产的IMS-xf系列,一种静态二次离子质谱(S-SIMS),如ULVAC-PHI公司生产的nano-TOF系列。动态和静态区分的标准时入射离子的计量,当>10^12ions/cm^2称为动态-SIMS,小于这个数值,称为S-SIMS.动态-SIMS主要用作半导体器件痕量元素的深度分析,以及矿物用同位素定年。要求样品导电性要好,静态-sims主要用于表面成分分析,如有机物,无机物分析,且可以分析分子碎片,并可以使其成像(2D,3D)。
2。全部同位素解析,根据同为个数,和自然界的丰度,半段谱峰对应的元素,同时也可以考虑一般谱峰都是带一个电荷的离子,通过查元素周期表就可以确认他们存在与否。