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ID:pglac
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ID:handc
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ID:liumei198320060
ID:xsh1234567
原文由 pglac 发表:SIMS(Secondary Ion mass Spectroscopy二次离子质谱):Ar+轰击GaAs,产生Ga+,Ga-,As+,As-正离子和负离子可以同时检测吗?好奇怪。。。。SIMS什么时候改进有氩一次离子源了?????那种类型SIMS做的啊???奇怪奇怪。。。。。。
ID:luorry
ID:xiaowang268