主题:SIMS(Secondary Ion mass Spectroscopy二次离子质谱):正离子和负离子可以同时检测吗?

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pglac
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SIMS(Secondary Ion mass Spectroscopy二次离子质谱):
Ar+轰击GaAs,产生Ga+,Ga-,As+,As-
正离子和负离子可以同时检测吗?



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handc
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zsdzsdzsd
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国内有SIMS,并且有10几台,但是正负离子不可以一起检测的。
handc
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qhum
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SIMS 在质谱的原理上是一样的,只是离子源不同。 它一般是采用ion gun 产生primary ions, 这个粒子束将会轰击样品产生sencondary ions. 这些二级的粒子通过飞行时间质谱仪,产生质谱。所以,positive acceleration voltage 产生正离子质谱,反之,负离子质谱。 他们不能同时产生
liumei198320060
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你好!
关于你问的那些单位有sims 我可以告诉你一些:北京离子探针中心、中科院地质与地球物理研究所、中国矿业大学(北京)、复旦大学。
xsh1234567
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原文由 pglac 发表:
SIMS(Secondary Ion mass Spectroscopy二次离子质谱):
Ar+轰击GaAs,产生Ga+,Ga-,As+,As-
正离子和负离子可以同时检测吗?



好奇怪。。。。SIMS什么时候改进有氩一次离子源了?????那种类型SIMS做的啊???奇怪奇怪。。。。。。
luorry
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SIMS的正离子源Cs2+ ,负离子源O2-
正离子和负离子不可以同时检测
生活就这么美好
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