主题:【求助】怎样才能拍出好的二维晶格像

浏览0 回复3 电梯直达
nudtjimmy
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最近在学习使用高分辨透射电镜Tecnai F20,现有两个问题向各位大侠请教:
1、我在测试SiC纳米线(111晶面间距为0.25nm)的时候,很多时候在高分辨下得到的是一维条纹结构(即只有一个方向的条纹),今天下午却偶然之间得到了非常漂亮的二维晶格结构图像(即可以看到单个原子的排列),我再去观察别的纳米线却得不到了。以前记得有本书上说只有在入射电子束与样品晶格结构呈特定 的位相关系情况下,就可以得到清晰的二维晶格条纹。我想请问各位老师,该怎么去调节仪器或样品以得到漂亮的二维晶格结构图像呢?

2、在测样品电子衍射图谱的时候,先在TEM模式下找到目标区,然后套光阑点衍射模式,进行选区衍射拍摄。但这样做得到的图谱往往很不好看,得到的衍射斑点很杂乱,我通过调整相机常数是无法解决的,请问各位老师这种情况该怎么办?似乎是要调整样品的角度,但具体要怎么操作呢?
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你遇到的困难主要是晶体方向不正。只能耐心一些,找一些相对孤立的纳米线,看着电子衍射慢慢把方向转好。如果纳米线非常细,衍射很弱,那就不好办了。不过,纳米线弄出二维晶格像未必有太大意义。
jem-2010
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二维晶格像拍摄需要电子束的方向与某一带轴方向平行才可以出现,一个方法就是找样品,这就看运气了,另一个方法就是转样品
电子衍射杂乱,你要想得到好的电子衍射结果的话首先你的样品的结晶性良好,然后就是旋转样品了
怪味陈皮
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关于怎样倾转带轴,以前版面上有版友发帖介绍过,还配上了图,你自己搜一下看看。
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