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ID:shxie
行业:其他
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原文由 sendtony6(sendtony6) 发表:量試片厚度不是這樣量的...看到快昏倒...量試片厚度可以用計算thickness fringes或是 CBED , EELS等方式去計算~絕對不是你朋友說的那樣~
原文由 sendtony6(sendtony6) 发表:此外~EDS mode是analysis mode電子束本來就非常弱...
原文由 蓝莓口香糖(drizzlemiao) 发表:不同的测量方法有不同的精度和适用范围,使用时也需要知道一些必要的参数。很多时候只需要对厚度做粗略估算,不需要得到很精确的数值,或者其它方法需要的出参数无法得到。关于用污染斑的方法,可以参考David Williams的书第一版629页,或者第二版670页。拿掉所有光阑直接轰击是做Beam Shower方法,这样得不到污染斑,反而可能越轰越干净。EDS模式是聚焦束,会损失一部分束流,但是光斑很小,所以束流密度反而比普通模式大。
ID:sendtony6
ID:penguinle
原文由 sendtony6(sendtony6) 发表:小弟~孤陋寡文了~不過書上使用此法~似乎是在STEM模式下~好像不是在EDS模式下~(不過此法~書上亦嫌粗糙了些...)
ID:MN
原文由 sendtony6(sendtony6) 发表:是沒錯~不過照片是STEM的照片~~這...就參考一下吧~