主题：【仪器参数解读（三）】第一集：原子吸收参数全解析

原文由 panyi1129(panyi1129) 发表:
有用过contrAA® 700连续光源火焰/石墨炉原子吸收光谱仪的吗？

原文由 haodou000(haodou000) 发表:
第四部分讨论：

检测器：
1.光电倍增管PMT；信号放大系统，主要用于顺序扫描的检测器，一个光电倍增管一次暴光只能检测“一条”谱线，无法“同时”测定分析线和背景的强度、
分析线的强度，
2.紫外高灵敏度CCD线阵检测器；电荷耦合器件CCD：是将电荷在检测单元之间逐个转移到一个具有电荷感应放
大器的检测单元上进行读出，每个检测单元之间不是相互独立的，其具有较高的量子效率
和光谱响应范围。因栅极对光的有强烈的吸收，因此一般采用背照射式，当有强光照射到
局部CCD 时存在电荷溢出现象，一般依靠信号处理电路来解决检测器的溢出问题，属于
破坏性读出。而分段耦合器件SCD也属于电荷耦合器件一种改进，主要是为减少CCD转
移电荷所需要的历程，通过独立设计，解决了CCD全部读出的缺点，SCD段与段之间无
溢出现象，但不能解决段内溢出现象，当然目前所有公司采用的CCD 检测器都是经过自
己特殊设计的，比如：VARIAN 的ICP 720 以上系列使用的CCD，具有很高的数据读取
速度和抗溢出设计，并且也能够进行摄谱、光谱指纹分析。因此CCD 做为ICP 检测器已
经是非常成熟的工艺。

CCD检测器在ICP上的确十分普遍，但是这类半导体元件的检测器会随着温度的增加而增大电噪声，所以ICP中用的CCD类检测器都有冷却，一般都要冷到零下。一直有个疑问，就是原子吸收中用的CCD检测器有冷却装置吗？如果没有，如何避免CCD的电噪声呢？

原文由 luxw-卢(luxw) 发表:

原文由 ghcily(ghcily) 发表:

原文由 iamquan(iamquan) 发表:
3. 连续光源：高聚焦短弧氙灯。（无需背景校正）

现在是否很少的仪器能达到呢？

好像耶那是最早用这种光源的吧。

上次咨询pe的，还不是。是不是技术要求比较高？还是华而不实啊？

原文由 tarika(tarika) 发表:
目前只有耶拿做连续光源的。个人认为其他厂家不做有两个原因：第一，原子吸收的优势在于利用每个元素的特征谱线逐一分析，这样可以减少光谱干扰，也可以使每个元素的测定条件得到最优化，连续光源不具备这个优势；第二，至少目前耶拿的连续光源仪器非常贵，如果说单一元素测定灵敏度，可能不如石墨炉仪器，而多元素同时测定，又比不过ICP光谱，个人认为连续光源仪器是介于原子吸收和ICP之间的一个有点尴尬的产品。呵呵，我的原吸坏了一个灯，还可以做其他元素，要是连续光源的灯坏了，就可以休息了。

原文由 wccd(wccd) 发表:
第四部分讨论：

检测器：
1.光电倍增管PMT；
2.紫外高灵敏度CCD线阵检测器；
3.全谱高灵敏度阵列式多象素点专用固态检测器（低噪声 CMOS电荷放大器阵列）。
光源：
1. 空心阴极灯：辉光放电灯。火焰法（乙炔混合气燃烧），石墨炉法（瞬时低压大电流，温度剧升）；
2.  连续光源：高聚焦短弧氙灯。（无需背景校正）【是技术的提高呢？还是华而不实的噱头？】
背景技术是一种针对样品的技术，与光源没有任何关联。
此仪器可能嵌入了连续光源（即类似于通常的D灯）扣背景技术。


光路 ：高光通量单光束/双光束自动切换
光栅：另有54x54mm高分辨率的中阶梯光栅
双闪耀波长：另有250nm和490nm
背景校正：氘灯背景校,自吸背景校正

石墨炉温度：室温～3000℃，可实现低温原子化。
石墨炉加热：横向加热石墨炉技术  【还有其他加热方式吗？他们之间有什么不同吗？】
还有纵向加热。只是很无聊的差别。对真实加热影响很小。
横向加热是在纵向磁场时的无奈选择，并没有优越性。影响加热的最根本还是石墨管。

原文由 rapin(rapin) 发表:

3.双闪耀波长是指什么？
在这两个波长下光的反射效率比其他波长下大。一般光栅能覆盖的波长范围为闪耀波长的正负2/3。

原文由 rapin(rapin) 发表:
石墨炉加热：横向加热石墨炉技术  【还有其他加热方式吗？他们之间有什么不同吗？】
还有纵向加热。只是很无聊的差别。对真实加热影响很小。
横向加热是在纵向磁场时的无奈选择，并没有优越性。影响加热的最根本还是石墨管。