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原文由 wangmeibao(wangmeibao) 发表:
1.6.1测定下限
定义：在限定误差能满足预定要求的前提下，用指定方法能够准确的定量测定待测物质的最小浓度或最小量，成为该方法的测定下限。
测定下限反映出定量分析方法能够准确测定低浓度水平待测物质的极限可能性。在消除了系统误差的前提下，它受精密度的限制，精密度越高，测定下限高于检出限越多。
“精密度越高，测定下限高于检出限越多。”写成“精密度越高，测定下限越接近于检出限。”是不是好点呢？
还有，1。测定下限和上限 怎么计算呢？可不可以理解成标准曲线的最低点和最高点呢？
2。在标准曲线的上弯曲和下弯曲时，能不能在上弯或下弯区域重新做条曲线来计算样品呢？或者只能是稀释或浓缩到标曲范围内在计算呢？这问题有点小白，哈哈。
3。测定下限可不可以理解为方法检出线呢？
4.光谱的检出限是重复做空白，色谱的是S/N=3吧，但有些GCMS的方法也采用了 “重复做空白的方法”，是不是也可以呢?
这是我看的最认真的帖子了，因为你写的东西都是实践得出的，哈哈，我没做过原吸，还请多多指教啊
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