您好!
献丑了!
首先,在排除您制样,测试过程的问题,光从谱图出发分析。
1.原料药高压均质(3)和处方高压均质(4)峰形一样,说明处方因素对于高压均质法制备纳米晶体的晶型没影响?
答:可以这么认为。
2.原料药高压均质(3)和处方高压均质(4)一样,和原料药固体粉末(1)不一样,说明物相有变化,那么说明晶型改变了么?需要如何证明?
答:有几种可能:一,晶型改变;二,生成了新的物相。
方法:1,可以尝试指标化谱图;2,元素分析,红外,质谱等等把物相确定。
3 本计划再补充做下单纯辅料高压均质后的X 射线衍射以及两辅料分别得X 射线衍射,排除处方因素或者确定是处方干扰,需要么?
答:可以尝试做一下,排除一些因素。毕竟我们需要透过现象看本质。
4 准备做DSC,判断熔点是否变化,但是话又说回来,熔点变化也不能说明物质的分子结构变了,可能是同一物质由于晶型改变导致的,但是我怎么样正反证明呢?
答:建议做一下,可以为5号问题做铺垫,一则,判断几种化合物的结晶水,到底存在否。二来,可以看看熔点变化,给予更多的判断依据。
5 由于药物是半水化物,考虑是否是因为在高压均质过程中,是否脱水了,造成的峰形改变?
答:高压均质过程,会不会脱去结晶水,不是很清楚。但是从你给的几个谱图中看到,有变化,可能有这个现象。做个热重分析,计算结晶水的含量,是否可行。
6 测定药物含量,由于是高压均质法,有药物损失,进
液相,无杂峰,仅一主峰,说明无降解峰。
答:与标样对过了?
7 不会查询X 射线衍射卡片库,而且估计这样的有机合成药物没有对应标准谱图。
答,去查一下,不要估计。google就可以了。有没有你类似的化合物报导。
8 看到之前帖子,想问:参考文献后,处方中辅料A 在15°,20°有强吸收峰,想问对于这样的两辅料存在情况下,对于测定的X 射线衍射谱图的影响。
答:不是很理解!
9 各位有什么好的分析方法和思路?感谢大家辛苦读贴回帖!
答:一股脑问题太多,我们都看的烦了,何况你自己!!一个问题一个问题解决。
个人拙见,请大家指正!